METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Taratura di calibratori multifunzione di alto Livello nelle funzioni resistenza in corrente continua e corrente continua / Lanzillotti, M.; Capra, P. P.; Galliana, F.. - (2019), pp. 1-43. 2019 M. LanzillottiP. P. CapraF. Galliana -
Taratura di calibratori multifunzione di alto Livello nella funzione tensione continua / Lanzillotti, Marco; Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio. - (2019), pp. 1-49. [10.13140/rg.2.2.15422.54085] 2019 Marco LanzillottiPier Paolo CapraFlavio Galliana -
Taratura di termometri a resistenza di platino per le misure della temperatura dei campioni elettrici nazionali / Capra, PIER PAOLO; Durbiano, F.. - 570:(1999). 1999 CAPRA, PIER PAOLODurbiano F. -
Taratura di trasduttori per cortocircuito mediante digitalizzatori ad elevata precisione / Roccato, P.; Bellavia, L.; Lanzillotti, M.; Capra, P. P.. - (2020), pp. 219-220. (Intervento presentato al convegno IV Forum Nazionale delle Misure). 2020 P. RoccatoL. BellaviaM. LanzillottiP. P. Capra Roccato.pdf
Techniques for traceable measurements of small currents / Callegaro, Luca; D'Elia, V; Capra, PIER PAOLO; Sosso, Andrea. - (2006), pp. 230-231. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Torino, Italy nel 9-14 July 2006). 2006 CALLEGARO, LUCACAPRA, PIER PAOLOSOSSO, ANDREA + -
Techniques for traceable measurements of small currents / Callegaro, Luca; D'Elia, V; Capra, PIER PAOLO; Sosso, Andrea. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 56(2):2(2007), pp. 295-299. [10.1109/TIM.2007.890800] 2007 CALLEGARO, LUCACAPRA, PIER PAOLOSOSSO, ANDREA + -
THE IEN CCC BRIDGE TO SCALE THE QUANTIZED HALL RESISTANCE / Boella, G.; Mihai, I.; Marullo Reedtz, G.; Capra, P. P.; Gasparotto, E.. - (2004), pp. 520-521. (Intervento presentato al convegno CPEM’04 Conf. Dig tenutosi a London, UK nel 27 June-2 July 2004) [10.1109/CPEM.2004.305341]. 2004 Mihai I.Capra P. P.Gasparotto E. + Boella_ConfDig_CPEM04_04097352.pdf
The IEN CCC Bridge to Scale the Quantized Hall Resistance to 1 ohm Standards / Boella, G; Mihai, Iulian; Marullo Reedtz, G; Capra, PIER PAOLO; Gasparotto, E.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 54:2(2005), pp. 588-591. 2005 MIHAI, IULIANCAPRA, PIER PAOLOGasparotto E. + -
Traceability of the 10 kΩ Standard at IEN / Boella, G; Capra, PIER PAOLO; Cassiago, Cristina; Cerri, R; MARULLO REEDTZ, G; Sosso, Andrea. - (2000), pp. 98-99. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Sydney, Australia nel 14-19/05/2000) [10.1109/CPEM.2000.850895]. 2000 CAPRA, PIER PAOLOCASSIAGO, CRISTINASOSSO, ANDREA + -
Traceability of the 10 kΩ Standard at IEN / Boella, G; Capra, PIER PAOLO; Cassiago, Cristina; Cerri, R; Reedtz, Gm; Sosso, Andrea. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 50:2(2001), pp. 245-248. [10.1109/19.918113] 2001 CAPRA, PIER PAOLOCASSIAGO, CRISTINASOSSO, ANDREA + -
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Autore
  • GALLIANA, FLAVIO 112
  • GASPAROTTO, ENRICO 38
  • SERAZIO, DANILO 21
  • CALLEGARO, LUCA 17
  • LANZILLOTTI, MARCO 16
  • SOSSO, ANDREA 16
  • DURBIANO, FRANCESCA 12
  • CASSIAGO, CRISTINA 10
  • ASTRUA, MILENA 9
  • CERRI, ROBERTO 9
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 13
  • 2010 - 2019 55
  • 2000 - 2009 71
  • 1991 - 1999 19
Editore
  • AEI 25
  • IMEKO 6
  • EDP Sciences 4
  • Elsevier 4
  • LES ULIS CEDEX: EDP Sciences 3
  • IEEE 2
  • Springer-Verlag Italia 2
  • Aracne editrice S.r.l., 1
  • AUGUSTA MORTARINO 1
  • BIPM-IOP 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 13
  • MEASUREMENT 10
  • TUTTO MISURE 6
  • METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS 3
  • METROLOGIA 2
  • ENGINEERING RESEARCH EXPRESS 1
  • IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS 1
  • IMEKO TC4 INTERNATIONAL SYMPOSIUM 1
  • MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 1
  • REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 1
Keyword
  • measurement uncertainties 5
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