METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Traceable Technique to calibrate Clamp Meters in AC Current From 100 to 1500 A / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 61:9(2012), pp. 2512-2518. [10.1109/TIM.2012.2188660] 2012 GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLO -
Traceable Technique to calibrate dc current shunts and resistors in the range from 10 µohm to 10 mohm / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO; Gasparotto, E.. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - 46:(2013), pp. 1630-1640. [10.1016/j.measurement.2012.11.031] 2013 GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLOE. GASPAROTTO -
Use of a 100 MΩ step HAMON resistor for calibration of pico-ammeters in dc current in the range 100 pA ÷ 100 nA / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Astrua, Milena; Gasparotto, E.. - (2007), pp. cd rom-cdrom. (Intervento presentato al convegno 15th IMEKO TC4 Symposium on Novelties in Electrical Measurements 1st IMEKO TC19 Symposium on Measure tenutosi a IASI (ROMANIA) nel 18 –22 September 2007). 2007 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIOASTRUA, MILENAE. GASPAROTTO -
Using High-Precision Multimeter Digitizer for High Short-Circuit Current Calibration / Roccato, Paolo Emilio; Capra, Pier Paolo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - (2019), pp. 1-6. [10.1109/TIM.2019.2898015] 2019 Roccato, Paolo EmilioCapra, Pier Paolo -
Using of High Precision Multimeter Digitizer for High Transient Current Calibration / Roccato, P. E.; Capra, P. P.; Bellavia, L.; Cinnirella, L.; Lanzillotti, M.. - (2018), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018)) [10.1109/CPEM.2018.8501250]. 2018 Roccato, P. E.Capra, P. P.Bellavia, L.Cinnirella, L.Lanzillotti, M. 08501250.pdf
Valutazione di due metodi alternativi per tarare resistori di elevatissimo valore all’INRIM / Galliana, F; Capra, P; Gasparotto, E. - (2011). (Intervento presentato al convegno Metrologia & Qualità 2011 tenutosi a TORINO nel 13-15 APRILE 2011). 2011 Galliana FCAPRA PGasparotto E pos2.pdf
Verification of thermal converters by means of a pulsed Josephson standard / Kubiczek, Krzysztof; Durandetto, Paolo; Capra, Pier Paolo; Francese, Claudio; Lanzillotti, Marco; Roncaglione, Luca; Kampik, Marian; Sosso, Andrea. - (2023), pp. 69-71. (Intervento presentato al convegno 26th IMEKO TC4 International Symposium 24th International Workshop on ADC/DAC Modelling&Testing tenutosi a Pordenone nel 20-21 September 2023). 2023 Durandetto, PaoloCapra, Pier PaoloFrancese, ClaudioLanzillotti, MarcoRoncaglione, LucaSosso, Andrea + Verf-ThCon_w-PulsJJ.pdf
“Realizzazione di un resistore campione da 10 kΩ di elevata accuratezza / Capra, PIER PAOLO; Cassiago, Cristina; Galliana, Flavio; Astrua, Milena. - CD-ROM:(2008), pp. 41-42. (Intervento presentato al convegno XXV CONGRESSO ANNUALE DEL GRUPPO NAZIONALE DI COORDINAMENTO “MISURE ELETTRICHE ED ELETTRONICHE” GMEE tenutosi a ROMA nel 12÷13 SETTEMBRE 2008.). 2008 CAPRA, PIER PAOLOCASSIAGO, CRISTINAGALLIANA, FLAVIOASTRUA, MILENA -
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Autore
  • GALLIANA, FLAVIO 112
  • GASPAROTTO, ENRICO 38
  • SERAZIO, DANILO 21
  • CALLEGARO, LUCA 17
  • LANZILLOTTI, MARCO 16
  • SOSSO, ANDREA 16
  • DURBIANO, FRANCESCA 12
  • CASSIAGO, CRISTINA 10
  • ASTRUA, MILENA 9
  • CERRI, ROBERTO 9
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 13
  • 2010 - 2019 55
  • 2000 - 2009 71
  • 1991 - 1999 19
Editore
  • AEI 25
  • IMEKO 6
  • EDP Sciences 4
  • Elsevier 4
  • LES ULIS CEDEX: EDP Sciences 3
  • IEEE 2
  • Springer-Verlag Italia 2
  • Aracne editrice S.r.l., 1
  • AUGUSTA MORTARINO 1
  • BIPM-IOP 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 13
  • MEASUREMENT 10
  • TUTTO MISURE 6
  • METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS 3
  • METROLOGIA 2
  • ENGINEERING RESEARCH EXPRESS 1
  • IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS 1
  • IMEKO TC4 INTERNATIONAL SYMPOSIUM 1
  • MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 1
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Keyword
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