METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Bayesian model selection applied to linear regressions with weighted data / Mana, Giovanni; Massa, Enrico; Sasso, Carlo Paolo. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 56:2(2019). [10.1088/1681-7575/ab0338] 2019 Mana, GiovanniMassa, EnricoSasso, Carlo Paolo 2019_Bayesian model selection.pdf; 2019_Bayesian_model_revised.pdf
Beam-astigmatism in laser interferometry / Bergamin, A; Cavagnero, G; Cordiali, L; Mana, Giovanni. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 46:2(1997), pp. 196-200. [10.1109/19.571811] 1997 MANA, GIOVANNI + -
Calibration of a silicon crystal for absolute nuclear spectroscopy / Massa, Enrico; Mana, Giovanni; Kuetgens, U; Ferroglio, L.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0021-8898. - 43:(2010), pp. 293-296. 2010 MASSA, ENRICOMANA, GIOVANNI + -
Caratterizzazione delle tavole vibranti IMGC / Mana, Giovanni; Mari, DOMENICO GIANLUCA; Mazzoleni, Fabrizio. - (2003). 2003 MANA, GIOVANNIMARI, DOMENICO GIANLUCAMAZZOLENI, FABRIZIO -
Combined optical and X-ray interferometry for high-precision dimensional metrology / Basile, G; Becker, P; Bergamin, A; Cavagnero, G; Franks, A; Jackson, K; Kuetgens, U; Mana, Giovanni; Palmer, Ew; Robbie, Cj; Stedman, M; Stumpel, J; Yacoot, A; Zosi, G.. - In: PROCEEDINGS OF THE ROYAL SOCIETY OF LONDON. SERIES A. - ISSN 1364-5021. - 456:1995(2000), pp. 701-729. [10.1098/rspa.2000.0536] 2000 MANA, GIOVANNI + -
Comparison of IMGC and PTB absolute determinations of the Si (220) lattice spacing / P., Beker; U., Kuetgens; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - (2004), pp. 441-442. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a London nel 27th June 2nd July). 2004 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Comparison of the INRIM and PTB lattice-spacing standards / Massa, Enrico; Mana, Giovanni; Kuetgens, U.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 46:(2009), pp. 249-253. 2009 MASSA, ENRICOMANA, GIOVANNI + -
CONFIRMATION OF THE IMGC AND PTB DETERMINATIONS OF THE SILICON LATTICE SPACING / G., Cavagnero; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; P., Becker; U., Kuetgens. - (2006), pp. 66-67. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a Turin nel 10-14 July). 2006 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Confirmation of the INRiM and PTB determinations of the Si lattice parameter / Becker, P; Cavagnero, G; Kuetgens, U; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 56:(2007), pp. 230-234. 2007 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Considerations on future redefinitions of the kilogram, the mole and of other units / P., Becker; P., DE BIEVRE; K., Fujii; M., Glaeser; B., Inglis; H., Luebbig; Mana, Giovanni. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 44:(2007), pp. 1-14. 2007 MANA, GIOVANNI + -
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Autore
  • MASSA, ENRICO 77
  • SASSO, CARLO PAOLO 33
  • D'AGOSTINO, GIANCARLO 13
  • BISI, MARCO 7
  • DI LUZIO, MARCO 7
  • BERGAMASCHI, LUIGI 5
  • DURANDO, GIOVANNI 5
  • MARI, DOMENICO GIANLUCA 5
  • BALSAMO, ALESSANDRO 4
  • CALONICO, DAVIDE 4
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 14
  • 2010 - 2019 75
  • 2000 - 2009 53
  • 1990 - 1999 34
  • 1986 - 1989 5
Editore
  • IOP 10
  • Optical Society of America 5
  • American Chemical Society 3
  • INT UNION CRYSTALLOGRAPHY 3
  • IOP PUBLISHING LTD 3
  • Wiley 3
  • American Chemical Society (ACS) 2
  • Elsevier 2
  • AIP 1
  • American Institute of Physics 1
Rivista
  • METROLOGIA 54
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 10
  • MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 10
  • JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 6
  • OPTICS EXPRESS 6
  • REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 6
  • ANALYTICAL CHEMISTRY 5
  • JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 4
  • ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A... 3
  • CLASSICAL AND QUANTUM GRAVITY 3
Keyword
  • Avogadro constant 13
  • metrology 6
  • optical interferometry 6
  • diffraction 4
  • kilogram 4
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  • X-ray interferometry 4
  • data analysis 3
  • dynamical theory of X-ray diffrac... 3
  • Planck constant 3
Lingua
  • eng 118
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