METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 11 - 20 di 181 (tempo di esecuzione: 0.007 secondi).
Citazione Data di pubblicazione Autori File
A new low-uncertainty measurement of the31Si half-life / D'Agostino, Giancarlo; Di Luzio, M; Mana, Giovanni; Oddone, M.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 54:3(2017), pp. 410-416. [10.1088/1681-7575/aa6edf] 2017 D'AGOSTINO, GIANCARLODi Luzio, MMANA, GIOVANNI + dagostino_et_al.pdf; 2017 dagostino halflife.pdf
A new scanning x-ray interferometer / A., Bergamin; G., Cavagnero; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; G., Zosi. - (2000), pp. 109-110. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a Sydney Australia nel 14-19 May). 2000 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
A Possible Solution for the Discrepancy Between the INRIM and NMIJ Values of the Si Lattice-Parameter / H., Fujimoto; Mana, Giovanni; K., Nakayama. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 56:(2007), pp. 351-355. 2007 MANA, GIOVANNI + -
A two thickness interferometer for lattice strain investigations / Massa, Enrico; Melis, Claudio; Sasso, Carlo Paolo; Kuetgens, Ulrich; Mana, Giovanni. - (2016), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 2016 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2016)) [10.1109/CPEM.2016.7540796]. 2016 Massa, EnricoSasso, Carlo PaoloMana, Giovanni + 07540796.pdf
A two-axis tip-tilt platform for x-ray interferometry / Bergamin, A; Cavagnero, G; Durando, Giovanni; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 14:6(2003), pp. 717-723. [10.1088/0957-0233/14/6/303] 2003 DURANDO, GIOVANNIMANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Aberration effects in two-beam laser interferometers / Cavagnero, Giovanni; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - In: JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA. A, OPTICS, IMAGE SCIENCE, AND VISION. - ISSN 1084-7529. - 23:8(2006), pp. 1951-1959. [10.1364/JOSAA.23.001951] 2006 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
ACCURACY ASSESSMENT OF A LEAST-SQUARES ESTIMATOR FOR SCANNING-X-RAY INTERFEROMETRY / Bergamin, A; Cavagnero, G; Mana, Giovanni. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 2:8(1991), pp. 725-734. [10.1088/0957-0233/2/8/004] 1991 MANA, GIOVANNI + -
Accuracy assessment of data analysis in absolute gravimetry / Durando, Giovanni; Mana, Giovanni; Mazzoleni, F.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 52:2(2003), pp. 500-503. [10.1109/TIM.2003.810044] 2003 DURANDO, GIOVANNIMANA, GIOVANNI + -
Accuracy of laser beam center and width calculations / Mana, Giovanni; Massa, Enrico; Rovera, A.. - In: APPLIED OPTICS. - ISSN 0003-6935. - 40:9(2001), pp. 1378-1385. [10.1364/AO.40.001378] 2001 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Accurate measurements of the Avogadro and Planck constants by counting silicon atoms / Bettin, H; Fujii, K; Man, J; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; Picard, A.. - In: ANNALEN DER PHYSIK. - ISSN 0003-3804. - 525:8-9(2013), pp. 680-687. [10.1002/andp.201300038] 2013 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Risultati 11 - 20 di 181 (tempo di esecuzione: 0.007 secondi).
↑ Back to top
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 147
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 147
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 30
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 29
  • 5 Altro 4
  • 5 Altro::5.12 Altro 4
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 1
Autore
  • MASSA, ENRICO 77
  • SASSO, CARLO PAOLO 33
  • D'AGOSTINO, GIANCARLO 13
  • BISI, MARCO 7
  • DI LUZIO, MARCO 7
  • BERGAMASCHI, LUIGI 5
  • DURANDO, GIOVANNI 5
  • MARI, DOMENICO GIANLUCA 5
  • BALSAMO, ALESSANDRO 4
  • CALONICO, DAVIDE 4
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 14
  • 2010 - 2019 75
  • 2000 - 2009 53
  • 1990 - 1999 34
  • 1986 - 1989 5
Editore
  • IOP 10
  • Optical Society of America 5
  • American Chemical Society 3
  • INT UNION CRYSTALLOGRAPHY 3
  • IOP PUBLISHING LTD 3
  • Wiley 3
  • American Chemical Society (ACS) 2
  • Elsevier 2
  • AIP 1
  • American Institute of Physics 1
Rivista
  • METROLOGIA 54
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 10
  • MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 10
  • JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 6
  • OPTICS EXPRESS 6
  • REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 6
  • ANALYTICAL CHEMISTRY 5
  • JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 4
  • ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A... 3
  • CLASSICAL AND QUANTUM GRAVITY 3
Keyword
  • Avogadro constant 13
  • metrology 6
  • optical interferometry 6
  • diffraction 4
  • kilogram 4
  • precision measurements 4
  • X-ray interferometry 4
  • data analysis 3
  • dynamical theory of X-ray diffrac... 3
  • Planck constant 3
Lingua
  • eng 118
  • ita 5
Accesso al fulltext
  • no fulltext 127
  • open 26
  • partially open 17
  • reserved 10
  • restricted 1