METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Active distance stabilization of large bodies with picometer repeatability / E., Canuto; F., Donati; F., Bertinetto; Mana, Giovanni; Bisi, Marco; S., Cesare; F., Pepe. - (1999), pp. 1704-1709. (Intervento presentato al convegno 1999 IEEE International Conference on Control Applications tenutosi a Kohala Coast, Island of Hawaii (USA) nel August 22-27, 1999). 1999 MANA, GIOVANNIBISI, MARCO + -
ADVANCES IN THE MEASUREMENT OF THE 28Si LATTICE PARAMETER / Massa, Enrico; Mana, Giovanni; Kessler, E. G.. - (2010), pp. 133-134. (Intervento presentato al convegno CPEM 2010 tenutosi a Daejeon, Korea nel June 13-18, 2010). 2010 MASSA, ENRICOMANA, GIOVANNI + -
An automated resistor network to inspect the linearity of resistance-thermometry measurements / Massa, Enrico; Mana, Giovanni. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 24:10(2013). [10.1088/0957-0233/24/10/107001] 2013 MASSA, ENRICOMANA, GIOVANNI -
Application of Neutron Activation Analysis for the characterization of the silicon materials used to determine the Avogadro constant / Di Luzio, M.; Bennett, J.; D'Agostino, G.; Mana, G.; Oddone, M.; Prata, M.; Sasso, C. P.; Stopic, A.. - (2016). 2016 M. Di LuzioG. D'AgostinoG. ManaC. P. Sasso + DiLuzio_Application of Neutron Activation Analysis for the characterization of the silicon materials_poster.pdf
Assessment of the accuracy of the 28Si (220) plane spacing / Mana, G.; Massa, E.; Sasso, C.. - (2014), pp. 396-397. (Intervento presentato al convegno 29th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014)) [10.1109/CPEM.2014.6898426]. 2014 Mana, G.Massa, E.Sasso, C. 06898426.pdf
Avogadro constant measurements using enriched 28Si monocrystals / Fujii, K; Massa, E; Bettin, H; Kuramoto, N; Mana, G. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 55:1(2018), pp. L1-L4. [10.1088/1681-7575/aa9abd] 2018 Massa, EMana, G + Fujii_2018_Metrologia_55_L1.pdf
Bayesian estimate of the degree of a polynomial given a noisy data sample / Mana, Giovanni; GIULIANO ALBO, PAOLO ALBERTO; Lago, Simona. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - 55:(2014), pp. 564-570. [10.1016/j.measurement.2014.05.037] 2014 MANA, GIOVANNIGIULIANO ALBO, PAOLO ALBERTOLAGO, SIMONA -
Bayesian estimate of the zero-density frequency of a Cs fountain / Calonico, Davide; Levi, Filippo; Lorini, Luca; Mana, Giovanni. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 46:(2009), pp. 629-636. [10.1088/0026-1394/46/6/004] 2009 CALONICO, DAVIDELEVI, FILIPPOLORINI, LUCAMANA, GIOVANNI -
Bayesian inference of a negative quantity from positive measurement results / Calonico, Davide; Levi, Filippo; Lorini, Luca; Mana, Giovanni. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 46:3(2009), pp. 267-271. [10.1088/0026-1394/46/3/014] 2009 CALONICO, DAVIDELEVI, FILIPPOLORINI, LUCAMANA, GIOVANNI -
Bayesian inference of a negative quantity from positive measurement results / Calonico, Davide; Levi, Filippo; Lorini, Luca; Mana, Giovanni. - 1:(2009), pp. 568-572. (Intervento presentato al convegno eftf 2009 tenutosi a besancon nel 2009). 2009 CALONICO, DAVIDELEVI, FILIPPOLORINI, LUCAMANA, GIOVANNI -
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Autore
  • MASSA, ENRICO 77
  • SASSO, CARLO PAOLO 33
  • D'AGOSTINO, GIANCARLO 13
  • BISI, MARCO 7
  • DI LUZIO, MARCO 7
  • BERGAMASCHI, LUIGI 5
  • DURANDO, GIOVANNI 5
  • MARI, DOMENICO GIANLUCA 5
  • BALSAMO, ALESSANDRO 4
  • CALONICO, DAVIDE 4
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 14
  • 2010 - 2019 75
  • 2000 - 2009 53
  • 1990 - 1999 34
  • 1986 - 1989 5
Editore
  • IOP 10
  • Optical Society of America 5
  • American Chemical Society 3
  • INT UNION CRYSTALLOGRAPHY 3
  • IOP PUBLISHING LTD 3
  • Wiley 3
  • American Chemical Society (ACS) 2
  • Elsevier 2
  • AIP 1
  • American Institute of Physics 1
Rivista
  • METROLOGIA 54
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 10
  • MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 10
  • JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 6
  • OPTICS EXPRESS 6
  • REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 6
  • ANALYTICAL CHEMISTRY 5
  • JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 4
  • ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A... 3
  • CLASSICAL AND QUANTUM GRAVITY 3
Keyword
  • Avogadro constant 13
  • metrology 6
  • optical interferometry 6
  • diffraction 4
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Lingua
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