METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 181 - 181 di 181 (tempo di esecuzione: 0.004 secondi).
Citazione Data di pubblicazione Autori File
X-ray phase-contrast topography to measure the surface stress and bulk strain in a silicon crystal / Massa, E.; Sasso, C. P.; Fretto, M.; Martino, L.; Mana, G.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 1600-5767. - 53:5(2020), pp. 1195-1202. [10.1107/s1600576720009267] 2020 E. MassaC. P. SassoM. FrettoL. MartinoG. Mana VH521_X_ray_phase_contrast_topography_to_measure_the_surface_stress.pdf
Risultati 181 - 181 di 181 (tempo di esecuzione: 0.004 secondi).
↑ Back to top
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 147
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 147
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 30
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 29
  • 5 Altro 4
  • 5 Altro::5.12 Altro 4
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 1
Autore
  • MASSA, ENRICO 77
  • SASSO, CARLO PAOLO 33
  • D'AGOSTINO, GIANCARLO 13
  • BISI, MARCO 7
  • DI LUZIO, MARCO 7
  • BERGAMASCHI, LUIGI 5
  • DURANDO, GIOVANNI 5
  • MARI, DOMENICO GIANLUCA 5
  • BALSAMO, ALESSANDRO 4
  • CALONICO, DAVIDE 4
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 14
  • 2010 - 2019 75
  • 2000 - 2009 53
  • 1990 - 1999 34
  • 1986 - 1989 5
Editore
  • IOP 10
  • Optical Society of America 5
  • American Chemical Society 3
  • INT UNION CRYSTALLOGRAPHY 3
  • IOP PUBLISHING LTD 3
  • Wiley 3
  • American Chemical Society (ACS) 2
  • Elsevier 2
  • AIP 1
  • American Institute of Physics 1
Rivista
  • METROLOGIA 54
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 10
  • MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 10
  • JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 6
  • OPTICS EXPRESS 6
  • REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 6
  • ANALYTICAL CHEMISTRY 5
  • JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 4
  • ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A... 3
  • CLASSICAL AND QUANTUM GRAVITY 3
Keyword
  • Avogadro constant 13
  • metrology 6
  • optical interferometry 6
  • diffraction 4
  • kilogram 4
  • precision measurements 4
  • X-ray interferometry 4
  • data analysis 3
  • dynamical theory of X-ray diffrac... 3
  • Planck constant 3
Lingua
  • eng 118
  • ita 5
Accesso al fulltext
  • no fulltext 127
  • open 26
  • partially open 17
  • reserved 10
  • restricted 1