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EnglishWe describe a test carried out by using a two-thickness interferometer to investigate the effect of the surface stress on the measurement of the silicon lattice constant.
A two thickness interferometer for lattice strain investigations / Massa, Enrico; Melis, Claudio; Sasso, Carlo Paolo; Kuetgens, Ulrich; Mana, Giovanni. - (2016), pp. 1-2.
| Titolo: | A two thickness interferometer for lattice strain investigations |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2016 |
| Citazione: | A two thickness interferometer for lattice strain investigations / Massa, Enrico; Melis, Claudio; Sasso, Carlo Paolo; Kuetgens, Ulrich; Mana, Giovanni. - (2016), pp. 1-2. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11696/64958 |
| ISBN: | 978-1-4673-9134-4 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
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http://hdl.handle.net/11696/64958
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