A new low-uncertainty measurement of the31Si half-life / D'Agostino, Giancarlo; Di Luzio, M; Mana, Giovanni; Oddone, M.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 54:3(2017), pp. 410-416. [10.1088/1681-7575/aa6edf]

A new low-uncertainty measurement of the31Si half-life

D'AGOSTINO, GIANCARLO;Di Luzio, M;MANA, GIOVANNI;
2017

2017
partially_open
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
dagostino_et_al.pdf

accesso aperto

Tipologia: Documento in Post-print
Licenza: Pubblico - Tutti i diritti riservati
Dimensione 184.81 kB
Formato Adobe PDF
184.81 kB Adobe PDF Visualizza/Apri
2017 dagostino halflife.pdf

non disponibili

Tipologia: Versione editoriale
Licenza: Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione 945.41 kB
Formato Adobe PDF
945.41 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/55327
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 5
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 5
social impact