MEDVED BERNACHEA, JUAN IGNACIO
MEDVED BERNACHEA, JUAN IGNACIO
QN Metrologia quantistica e nanotecnologie
Calibration of Magnitude Error of Lock-in Amplifiers and Noise Response
2024 Cultrera, Alessandro; Medved, Juan; Ortolano, Massimo; Durandetto, Paolo; Sosso, Andrea; Callegaro, Luca
Il progetto QuAHMET, Quantum anomalous Hall effect materials and devices for metrology: attività all'INRIM
2024 Callegaro, Luca; Marzano, Martina; Medved, Juan; Gould, C.; Hoffmann, J.; Huang, N.; -Kaneko, N. H.; Kucera, J.; Molenkamp, L. W.; Onbasli, M. C.; Ozbay, A. G.; Scherer, H.; Kumar, S.
Misure su effetto Hall quantistico in criostato senza elio
2024 Medved, Juan; Callegaro, Luca; Cassiago, Cristina; Cultrera, Alessandro; D’Elia, Vincenzo; Enrico, Emanuele; Gasparotto, Enrico; Marzano, Martina; Ortolano, Massimo; Pierz, Klaus
QuAHMET: Quantum anomalous Hall effect materials and devices for metrology
2024 Marzano, Martina; Callegaro, Luca; Medved, Juan; Gould, Charles; Hoffmann, Johannes; Huang, Nathaniel; Kaneko, Nobu-Hisa; Kučera, Jan; Molenkamp, Laurens W.; Onbasli, Mehmet Cengiz; Ozbay, Aisha Gokce; Scherer, Hansjoerg; Kumar, Susmit
Traceable Measurements of Mutual Inductance Standards Applied to Large Capacitance Simulation in Electrochemical Impedance Spectroscopy
2024 Medved, Juan; Cultrera, Alessandro; Marzano, Martina; D'Elia, Vincenzo; Ortolano, Massimo; Callegaro, Luca
Trilateral Comparison Among Digital and Josephson Impedance Bridges
2024 Marzano, Martina; Ortolano, Massimo; Overney, Frédéric; Eichenberger, Ali L.; Kucera, Jan; D'Elia, Vincenzo; Bartova, Lucie; Medved, Juan; Callegaro, Luca
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Calibration of Magnitude Error of Lock-in Amplifiers and Noise Response / Cultrera, Alessandro; Medved, Juan; Ortolano, Massimo; Durandetto, Paolo; Sosso, Andrea; Callegaro, Luca. - (2024), pp. 1-2. [10.1109/cpem61406.2024.10646144] | 2024 | Cultrera, AlessandroMedved, JuanOrtolano, MassimoDurandetto, PaoloSosso, AndreaCallegaro, Luca | 20231122_CPEM_short_abstract_Lockin_input_noise_and_gain_calibration_sub.pdf; Calibration_of_Magnitude_Error_of_Lock-in_Amplifiers_and_Noise_Response.pdf |
| Il progetto QuAHMET, Quantum anomalous Hall effect materials and devices for metrology: attività all'INRIM / Callegaro, Luca; Marzano, Martina; Medved, Juan; Gould, C.; Hoffmann, J.; Huang, N.; -Kaneko, N. H.; Kucera, J.; Molenkamp, L. W.; Onbasli, M. C.; Ozbay, A. G.; Scherer, H.; Kumar, S.. - (2024), pp. 215-216. | 2024 | Luca CallegaroMartina MarzanoJuan Medved + | 20240510_GMEE2024_QuAHMET.pdf |
| Misure su effetto Hall quantistico in criostato senza elio / Medved, Juan; Callegaro, Luca; Cassiago, Cristina; Cultrera, Alessandro; D’Elia, Vincenzo; Enrico, Emanuele; Gasparotto, Enrico; Marzano, Martina; Ortolano, Massimo; Pierz, Klaus. - (2024), pp. 205-206. (Intervento presentato al convegno VIII Forum Nazionale delle Misure 2024 tenutosi a San Vincenzo (LI) nel 12-14 Settembre 2024). | 2024 | Juan MedvedLuca CallegaroCristina CassiagoAlessandro CultreraVincenzo D’EliaEmanuele EnricoEnrico GasparottoMartina MarzanoMassimo Ortolano + | Juan_Medved_01.pdf |
| QuAHMET: Quantum anomalous Hall effect materials and devices for metrology / Marzano, Martina; Callegaro, Luca; Medved, Juan; Gould, Charles; Hoffmann, Johannes; Huang, Nathaniel; Kaneko, Nobu-Hisa; Kučera, Jan; Molenkamp, Laurens W.; Onbasli, Mehmet Cengiz; Ozbay, Aisha Gokce; Scherer, Hansjoerg; Kumar, Susmit. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver (US) nel 8-12 Luglio 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10645997]. | 2024 | Marzano, MartinaCallegaro, LucaMedved, Juan + | 20240412_QuAHMET_CPEM2024_summary_paper_revised_fixed.pdf; QuAHMET_Quantum_anomalous_Hall_effect_materials_and_devices_for_metrology.pdf |
| Traceable Measurements of Mutual Inductance Standards Applied to Large Capacitance Simulation in Electrochemical Impedance Spectroscopy / Medved, Juan; Cultrera, Alessandro; Marzano, Martina; D'Elia, Vincenzo; Ortolano, Massimo; Callegaro, Luca. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 2024 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO, USA nel 6-11 Jul 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646077]. | 2024 | Medved, JuanCultrera, AlessandroMarzano, MartinaD'Elia, VincenzoOrtolano, MassimoCallegaro, Luca | 2024022350.pdf; Traceable_Measurements_of_Mutual_Inductance_Standards_Applied_to_Large_Capacitance_Simulation_in_Electrochemical_Impedance_Spectroscopy.pdf |
| Trilateral Comparison Among Digital and Josephson Impedance Bridges / Marzano, Martina; Ortolano, Massimo; Overney, Frédéric; Eichenberger, Ali L.; Kucera, Jan; D'Elia, Vincenzo; Bartova, Lucie; Medved, Juan; Callegaro, Luca. - (2024), pp. 1-2. [10.1109/cpem61406.2024.10646159] | 2024 | Marzano, MartinaOrtolano, MassimoD'Elia, VincenzoMedved, JuanCallegaro, Luca + | 2024106975.pdf; Trilateral_Comparison_Among_Digital_and_Josephson_Impedance_Bridges.pdf |