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    • 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) Home page tipologia

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    TitoloData di depositoAutore(i)
    Statistical tools for time varying quantities1-mar-2018Tavella, P.
    Precise time scales and navigation systems1-mar-2018Tavella, P.
    Measuring light1-mar-2018Brida, G.
    Uncertainty of measurement21-feb-2018Bich, Walter
    An optical lattice clock based on bosonic Sr23-gen-2018Poli, Nicola; Tarallo, Marco G.; Schioppo, Marco; Oates, Christopher W.; Tino, Guglielmo M.
    Flat top beam profile cavity prototype23-gen-2018Agresti, J.; D'Ambrosio, E.; Desalvo, R.; Mackowski, J.; Remillieux, A.; Simoni, B.; Tarallo, M.; Willems, P.
    Giorgio Nebbia: ecologia come nonviolenza30-mar-2017Ferrara, Enzo
    Fourier Transform Hyperspectral Imaging for Cultural Heritage6-mar-2017Zucco, Massimo; Pisani, Marco; Cavaleri, Tiziana
    Structural and electrophysical properties of porous silicon15-mar-2016Amato, G.
    Acustica. Fondamenti e applicazioni8-mar-2016Troia, A.; Madonna Ripa, D.
    Error, uncertainty and probability14-gen-2016W. BICH
    Zerovalent iron nanoparticles for groundwater remediation: Surface and magnetic properties, colloidal stability, and perspectives for field application12-nov-2015Tosco T.; Coisson M.; Xue D.; Sethi R.
    "Stochastic drift models for the determination of calibration intervals"12-nov-2015TAVELLA P; A. BOBBIO; S. COSTAMAGNA; A. MONTEFUSCO
    Magnetic and magnetoresistive properties of thin films patterned by self-assembling of polystyrene nanospheres12-nov-2015Coïsson M; Celegato F; Tiberto P; Vinai F; Boarino L; De Leo N
    Electromagnetic fields: definition of the methodology of technical and experimental analysis of interactions - Emissioni elettromagnetiche di impianti HVDC terrestri12-nov-2015Bottauscio O.; Borsero M.; Chiampi M.; Crotti G.; Zilberti L.; Agosto A.; Vizio G.
    Stochastic processes for modeling and evaluating atomic clock behaviour12-nov-2015Panfilo G; Zucca C; Tavella P
    Waveforms and frequency spectra of elastic emissions due to macrofractures in solids12-nov-2015Schiavi A; Niccolini G; Tarizzo P; Carpinteri A; Lacidogna G; Manuello A
    Calibration of multimeters as voltage ratio standards12-nov-2015Sosso A; Cerri R
    A capacitive displacement measurement system for scanning probe microscopy12-nov-2015Picotto {G. B.}; Desogus S.; Lanyi S.; Nerino R.; Sosso A; Monticone E.
    Josephson Junctions for Present and Next Generation Voltage Metrology12-nov-2015Lacquaniti V; Sosso A
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