METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente.
METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.
EnglishA fractional error as large as 25 pm mm(-1) at the zero optical-path difference has been observed in an optical interferometer measuring the displacement of an x-ray interferometer used to determine the lattice parameter of silicon. Detailed investigations have brought to light that the error was caused by light forward-scattered from the beam feeding the interferometer. This paper reports on the impact of forward-scattered light on the accuracy of two-beam optical interferometry applied to length metrology, and supplies a model capable of explaining the observed error.
Forward scattering in two-beam laser interferometry / Mana, G; Massa, E; Sasso, C. P.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 55:2(2018), pp. 222-228.
| Titolo: | Forward scattering in two-beam laser interferometry |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2018 |
| Rivista: | |
| Citazione: | Forward scattering in two-beam laser interferometry / Mana, G; Massa, E; Sasso, C. P.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 55:2(2018), pp. 222-228. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11696/58598 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| Mana_2018_Metrologia_55_222.pdf | Versione editoriale | PUBBLICO - Tutti i diritti riservati | Visibile a tuttiVisualizza/Apri |
http://hdl.handle.net/11696/58598
Copyright © 2021