documenta il manufatto "sistema di traslazione con risoluzione sub-nanometrica" prodotto nell'ambito del contratto D64 della Regione Piemonte (BANDO RICERCA SCIENTIFICA APPLICATA 2004 - DELIBERA CIPE N°17/2003)
Si lattice parameter measurement by centimeter X-ray interferometry / Ferroglio, L; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - 21:(2008), pp. 16877-16888.
Si lattice parameter measurement by centimeter X-ray interferometry
MANA, GIOVANNI;MASSA, ENRICO
2008
Abstract
documenta il manufatto "sistema di traslazione con risoluzione sub-nanometrica" prodotto nell'ambito del contratto D64 della Regione Piemonte (BANDO RICERCA SCIENTIFICA APPLICATA 2004 - DELIBERA CIPE N°17/2003)File in questo prodotto:
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