CIMMA, ALESSIO
CIMMA, ALESSIO
AE Metrologia applicata e ingegneria
Mostra
records
Risultati 1 - 2 di 2 (tempo di esecuzione: 0.0 secondi).
AFM tip reconstruction with known tip characterizers, algorithms and applications in nanometrology
2026 Giura, Andrea; Cimma, Alessio; Delvallèe, Alexandra; Ribotta, Luigi
Traceable characterisation of AFM probes: new ways to reconstruct tip shape and calibrate cantilevers
2025 Ribotta, Luigi; Delvallée, Alexandra; Cimma, Alessio; Giura, Andrea; Pisani, Marco; Prato, Andrea; Facello, Alessio; Schiavi, Alessandro
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| AFM tip reconstruction with known tip characterizers, algorithms and applications in nanometrology / Giura, A., Cimma, A., Delvallèe, A., Ribotta, L.. - (2026). (ISPM2026 Genova Maggio 2026). | 2026 | Andrea GiuraAlessio CimmaLuigi Ribotta + | - |
| Traceable characterisation of AFM probes: new ways to reconstruct tip shape and calibrate cantilevers / Ribotta, Luigi; Delvallée, Alexandra; Cimma, Alessio; Giura, Andrea; Pisani, Marco; Prato, Andrea; Facello, Alessio; Schiavi, Alessandro. - (2025). ( NanoInnovation 2025 – Conference and Exhibition). | 2025 | Luigi RibottaAlessio CimmaAndrea GiuraMarco PisaniAndrea PratoAlessio FacelloAlessandro Schiavi + | abstract Nanoinnovation.pdf |