AFM tip reconstruction with known tip characterizers, algorithms and applications in nanometrology / Giura, A., Cimma, A., Delvallèe, A., Ribotta, L.. - (2026). (ISPM2026 Genova Maggio 2026).
AFM tip reconstruction with known tip characterizers, algorithms and applications in nanometrology
Andrea Giura
;Alessio Cimma;Luigi Ribotta
2026
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