Sfoglia per Rivista

opzioni
Vai a: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

Mostrati risultati da 1 a 2 di 2
Citazione Data di pubblicazione Autori File
Neutron interference from a split-crystal interferometer / Lemmel, H.; Jentschel, M.; Abele, H.; Lafont, F.; Guerard, B.; Sasso, C. P.; Mana, G.; Massa, E.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 1600-5767. - 55:4(2022). [10.1107/S1600576722006082] 2022 C. P. SassoG. ManaE. Massa + -
X-ray phase-contrast topography to measure the surface stress and bulk strain in a silicon crystal / Massa, E.; Sasso, C. P.; Fretto, M.; Martino, L.; Mana, G.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 1600-5767. - 53:5(2020), pp. 1195-1202. [10.1107/s1600576720009267] 2020 E. MassaC. P. SassoM. FrettoL. MartinoG. Mana VH521_X_ray_phase_contrast_topography_to_measure_the_surface_stress.pdf
Mostrati risultati da 1 a 2 di 2
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile