METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Realizzazione presso l’IEN di un contenitore a temperatura e umidità relativa variabili per la caratterizzazione di campioni di grandezze elettriche / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Gasparotto, E.; Serazio, D.. - CD-ROM:(2001), pp. 41-42. (Intervento presentato al convegno CONGRESSO “METROLOGIA E QUALITÀ” tenutosi a torino nel 20-22 FEBBRAIO 2001,). 2001 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIOE. GASPAROTTOD. SERAZIO -
Regole di triangolazione per l’analisi di misure di elevatissima resistenza / Mihai, Iulian; Galliana, Flavio. - (2023), pp. 337-338. (Intervento presentato al convegno Forum delle misure / Congresso Nazionale di Misure Elettriche ed Elettroniche tenutosi a Bologna nel 13-15 SETTEMBRE 2023). 2023 Iulian MihaiFlavio Galliana -
Report of the Italian inter-laboratory comparison of high dc resistance on the calibration of a10 MΩ and a 1 GΩ resistors / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO; Gasparotto, E.. - CD-ROM:(2008), pp. 41-42. (Intervento presentato al convegno Two-day Workshop “Traceability to support CIPM MRA and other international arrangements tenutosi a torino nel 6-7 November 2008). 2008 GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLOE. GASPAROTTO -
Resistore campione da 1 GΩ indipendente dalle variazioni di temperatura, pressione e umidità: realizzazione e primi risultati sperimentali di caratterizzazione / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; F., Francone. - CD-ROM:(2002), pp. 41-42. (Intervento presentato al convegno XIX CONGRESSO ANNUALE DEL GRUPPO NAZIONALE DI COORDINAMENTO “MISURE ELETTRICHE ED ELETTRONICHE” GMEE tenutosi a parma nel 9÷11 SETTEMBRE 2002). 2002 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + -
Resistori di alto valore: studio del loro comportamento in funzione della tensione applicata / Galliana, Flavio; Boella, G.; Gasparotto, E.. - (1999), pp. 77-78. (Intervento presentato al convegno XVI CONGRESSO ANNUALE DEL GRUPPO NAZIONALE DI COORDINAMENTO “MISURE ELETTRICHE ED ELETTRONICHE” GMEE tenutosi a CATANIA nel 16÷18 SETTEMBRE 1999). 1999 GALLIANA, FLAVIOE. GASPAROTTO + -
Sistema automatico di misura per la taratura di resistori di alto valore in corrente continua / G., Boella; Galliana, Flavio; G., LA PAGLIA; G., Rua. - (1996), pp. 279-282. (Intervento presentato al convegno XIII CONGRESSO ANNUALE DEL GRUPPO NAZIONALE DI COORDINAMENTO “MISURE ELETTRICHE ED ELETTRONICHE tenutosi a LECCE nel 26 - 28 settembre 1996). 1996 GALLIANA, FLAVIO + -
SISTEMA DI MISURA PER ALTE RESISTENZE: DISPOSITIVO DI COMMUTAZIONE DEI RESISTORI IN TARATURA / G., Boella; Galliana, Flavio; G., Rua. - (1996), pp. ?-?. (Intervento presentato al convegno II CONVEGNO DEL SIT “IL SISTEMA NAZIONALE DI TARATURA IN ITALIA E IN EUROPA tenutosi a torino nel 24-25 settembre 1996). 1996 GALLIANA, FLAVIO + -
Sistema di misura per la taratura automatica di campioni di resistenza" / Capra, PIER PAOLO; S., D'Emilio; Galliana, Flavio; G., Rua. - CD-ROM:(1995), pp. 41-42. (Intervento presentato al convegno 96° RIUNIONE ANNUALE AEI tenutosi a roma nel 24 - 26 SETTEMBRE 1995). 1995 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + -
Sistema di misura per la taratura automatica di campioni di tensione allo stato solido / Capra, PIER PAOLO; S., D'Emilio; Galliana, Flavio. - CD-ROM:(1995), pp. 41-42. (Intervento presentato al convegno 96° RIUNIONE ANNUALE AEI tenutosi a roma nel 24 - 26 SETTEMBRE 1995). 1995 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + -
SISTEMA DI MISURA PER LA TARATURA DI PINZE AMPEROMETRICHE IN CORRENTE ALTERNATA / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; F., Francone. - CD-ROM:(2005), pp. 41-42. (Intervento presentato al convegno CONGRESSO “METROLOGIA E QUALITÀ 2005 tenutosi a torino nel FEBBRAIO 2005). 2005 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + -
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  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 97
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 2
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 1
Autore
  • CAPRA, PIER PAOLO 57
  • GASPAROTTO, ENRICO 20
  • SERAZIO, DANILO 15
  • ASTRUA, MILENA 7
  • CALLEGARO, LUCA 5
  • CERRI, ROBERTO 5
  • CULTRERA, ALESSANDRO 5
  • GERMITO, GABRIELE 5
  • LANZILLOTTI, MARCO 5
  • TRINCHERA, BRUNO OTTAVIO 5
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 8
  • 2010 - 2019 26
  • 2000 - 2009 35
  • 1994 - 1999 31
Editore
  • AEI 26
  • French College of Metrology 8
  • GMEE 8
  • IMEKO 8
  • EDP Sciences 3
  • LES ULIS CEDEX: EDP Sciences 3
  • SIAT 3
  • 1. G. Molinar, F. Galliana, P. So... 2
  • AUGUSTA MORTARINO 2
  • Augusta Mortarino 2
Rivista
  • IMEKO TC4 INTERNATIONAL SYMPOSIUM 1
Keyword
  • ------------------- 1
  • a Fluke 8508A and an 8588A DMMs... 1
  • Accuratezza 1
  • artifact calibration 1
  • At the National Institute of Metr... 1
  • calibration 1
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  • eng 53
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