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Sistema di misura per la taratura di resistori di alto valore in corrente continua / Galliana, Flavio; G., LA PAGLIA; G., Rua. - (1995), pp. ?-?. (Intervento presentato al convegno I CONVEGNO DEL SIT tenutosi a torino nel 17-18 OTTOBRE 1995). 1995 GALLIANA, FLAVIO + -
SIT and the National Calibration System in Italy / S., Demilio; Galliana, Flavio. - (1996), pp. 141-158. (Intervento presentato al convegno 5th U.S. - Italy Bilateral Seminar “Cooperation in metrology, equivalence of the national standards, tenutosi a GAITHERSBURG nel February 26-29). 1996 GALLIANA, FLAVIO + -
Studio del comportamento di resistori di alto valore in funzione dell’umidità relativa: primi risultati sperimentali / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Gasparotto, E.; Serazio, D.. - CD-ROM:(2000), pp. 41-42. (Intervento presentato al convegno XVII CONGRESSO ANNUALE DEL GRUPPO NAZIONALE DI COORDINAMENTO “MISURE ELETTRICHE ED ELETTRONICHE” GME tenutosi a PERUGIA nel 16÷18 SETTEMBRE 2000). 2000 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIOE. GASPAROTTOD. SERAZIO -
Sviluppi del SIT verso nuovi campi di misura: le grandezze foto-radiometriche e le grandezze in fibra ottica / Galliana, Flavio; Rastello, MARIA LUISA. - (2003), pp. ?-?. (Intervento presentato al convegno METROLOGIA E QUALITÀ”, 2003 tenutosi a torino nel FEBBRAIO 2003.). 2003 GALLIANA, FLAVIORASTELLO, MARIA LUISA -
Sviluppo di metodi e mezzi per la disseminazione nel settore delle misure elettriche in bassa frequenza / S., D'Emilio; G. C., Bosco; F., Cabiati; Galliana, Flavio; G., LA PAGLIA; G., Rua. - (1995), pp. ?-?. (Intervento presentato al convegno XII Congresso Annuale del GMEE tenutosi a Bologna nel 21 - 23 settembre 1995). 1995 GALLIANA, FLAVIO + -
Sviluppo di metodi e mezzi per la riferibilità e la taratura della strumentazione di riferimento dei laboratori operanti in sistemi di qualità aziendali / S., Demilio; Galliana, Flavio. - (1996), pp. 371-374. (Intervento presentato al convegno XIII CONGRESSO ANNUALE DEL GRUPPO NAZIONALE DI COORDINAMENTO “MISURE ELETTRICHE ED ELETTRONICHE tenutosi a LECCE nel 26 - 28 settembre 1996). 1996 GALLIANA, FLAVIO + -
Taratura degli strumenti di misura: il punto di vista degli Istituti metrologici primari / S., Demilio; Galliana, Flavio; G., LA PAGLIA. - (1995), pp. 22-32. (Intervento presentato al convegno GIORNATA DI STUDIO SU “CERTIFICAZIONE UNI EN ISO 9000 DEI SISTEMI DI MISURA E CONTROLLO AZIENDALI tenutosi a ?? nel 1995). 1995 GALLIANA, FLAVIO + -
The accreditation of the first SIT calibration Centre for colour measurements in Italy / Galliana, Flavio; Iacomussi, Paola; P., Carra. - (1999), pp. 297-300. (Intervento presentato al convegno 9th International congress of Metrology, “Metrologie ‘99 tenutosi a bordeaux nel october 1999). 1999 GALLIANA, FLAVIOIACOMUSSI, PAOLA + -
The mobile metrological laboratory by italian calibration service (SIT) for frequency and low frequency electrical quantities operating at Aviatronik / Galliana, Flavio; R., Stefanazzi. - (2001), pp. cd rom-cdrom. (Intervento presentato al convegno X International Metrology Congress,Metrologie 2001 tenutosi a S. Louis, France nel October, 22 ÷ 25, 2001). 2001 GALLIANA, FLAVIO + -
Traceability to national standards in Europe / S., Demilio; Galliana, Flavio. - (1996), pp. 36-48. (Intervento presentato al convegno the 5th Italy-USA Bilateral Seminar tenutosi a GAITHERSBURG nel February 26-29). 1996 GALLIANA, FLAVIO + -
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Tipologia
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  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 2
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 1
Autore
  • CAPRA, PIER PAOLO 57
  • GASPAROTTO, ENRICO 20
  • SERAZIO, DANILO 15
  • ASTRUA, MILENA 7
  • CALLEGARO, LUCA 5
  • CERRI, ROBERTO 5
  • CULTRERA, ALESSANDRO 5
  • GERMITO, GABRIELE 5
  • LANZILLOTTI, MARCO 5
  • TRINCHERA, BRUNO OTTAVIO 5
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 8
  • 2010 - 2019 26
  • 2000 - 2009 35
  • 1994 - 1999 31
Editore
  • AEI 26
  • French College of Metrology 8
  • GMEE 8
  • IMEKO 8
  • EDP Sciences 3
  • LES ULIS CEDEX: EDP Sciences 3
  • SIAT 3
  • 1. G. Molinar, F. Galliana, P. So... 2
  • AUGUSTA MORTARINO 2
  • Augusta Mortarino 2
Rivista
  • IMEKO TC4 INTERNATIONAL SYMPOSIUM 1
Keyword
  • ------------------- 1
  • a Fluke 8508A and an 8588A DMMs... 1
  • Accuratezza 1
  • artifact calibration 1
  • At the National Institute of Metr... 1
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Lingua
  • eng 53
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Accesso al fulltext
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