METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

Nanodimensional characterization on nanowires: an interlaboratory comparison between AFMs / Ribotta, L., Cara, E., Bellotti, R., DE CARLO, I., Fretto, M., Delvallée, A., Knulst, W., Koops, R., Torre, B., Boarino, L.. - (2023). (NanoScale 2023 (Euramet) ).

Nanodimensional characterization on nanowires: an interlaboratory comparison between AFMs

Luigi Ribotta
;Eleonora Cara;Roberto Bellotti;Ivan De Carlo;Matteo Fretto;Bruno Torre;Luca Boarino
2023
2023
NanoScale 2023 (Euramet)
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