METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

Nanodimensional characterization on nanowires: an interlaboratory comparison between AFMs / Ribotta, Luigi; Cara, Eleonora; Bellotti, Roberto; DE CARLO, Ivan; Fretto, Matteo; Delvallée, Alexandra; Knulst, Walter; Koops, Richard; Torre, Bruno; Boarino, Luca. - (2023). (Intervento presentato al convegno NanoScale 2023 (Euramet)).

Nanodimensional characterization on nanowires: an interlaboratory comparison between AFMs

Luigi Ribotta
;Eleonora Cara;Roberto Bellotti;Ivan De Carlo;Matteo Fretto;Bruno Torre;Luca Boarino
2023
2023
NanoScale 2023 (Euramet)
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