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EnglishDifferential readings of capacitance-based controls of attitude and displacements at the micro/nano scale / Picotto, Gian Bartolo; Bellotti, Roberto; Sosso, Andrea. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 31:10(2020), p. 104006.
| Titolo: | Differential readings of capacitance-based controls of attitude and displacements at the micro/nano scale | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2020 | |
| Rivista: | ||
| Citazione: | Differential readings of capacitance-based controls of attitude and displacements at the micro/nano scale / Picotto, Gian Bartolo; Bellotti, Roberto; Sosso, Andrea. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 31:10(2020), p. 104006. | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11696/63310 | |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| Picotto+et+al_2020_Meas._Sci._Technol._10.1088_1361-6501_ab9038_accepted manuscript.pdf | Articolo - accepted manuscript | Documento in Post-print |  | Embargo: 25/07/2021 Richiedi una copia |
| Picotto_2020_Meas._Sci._Technol._31_104006.pdf | Versione editoriale | Non Pubblico - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
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http://hdl.handle.net/11696/63310
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