METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

A QCL-based metrological-graded source at 6 um / D'Ambrosio, D.; Borri, S.; Calonico, D.; Clivati, C.; De Natale, P.; De Pas, M.; Insero, G.; Levi, F.; Verde, M.; Santambrogio, G.. - In: APPLIED PHYSICS. B, LASERS AND OPTICS. - ISSN 0946-2171. - (In corso di stampa).

A QCL-based metrological-graded source at 6 um

D. Calonico;C. Clivati;M. De Pas;F. Levi;G. Santambrogio
In corso di stampa
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