A QCL-based metrological-graded source at 6 um / D'Ambrosio, D.; Borri, S.; Calonico, D.; Clivati, C.; De Natale, P.; De Pas, M.; Insero, G.; Levi, F.; Verde, M.; Santambrogio, G.. - In: APPLIED PHYSICS. B, LASERS AND OPTICS. - ISSN 0946-2171. - (2020).

A QCL-based metrological-graded source at 6 um

D. Calonico;C. Clivati;G. Insero;F. Levi;G. Santambrogio
2020

File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
s00340-020-7388-4.pdf

non disponibili

Tipologia: Versione editoriale
Licenza: Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione 1.98 MB
Formato Adobe PDF
1.98 MB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/61289
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact