We report about numerical and experimental investigations of the thermal gradients in the INRIM's combined X-ray and optical interferometer used to measure the lattice parameter of silicon.

Thermal Gradients in the Si Lattice Parameter Measurement / Mana, Giovanni; Massa, Enrico; Sasso, Carlo Paolo. - (2018), pp. 1-2. ((Intervento presentato al convegno 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018) tenutosi a Paris (France) nel 8-13 July 2018 [10.1109/CPEM.2018.8500839].

Thermal Gradients in the Si Lattice Parameter Measurement

Mana, Giovanni
;
Massa, Enrico;Sasso, Carlo Paolo
2018

Abstract

We report about numerical and experimental investigations of the thermal gradients in the INRIM's combined X-ray and optical interferometer used to measure the lattice parameter of silicon.
2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018)
8-13 July 2018
Paris (France)
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