Properties of r.f. sputtered niobium thin films for metrological applications / Andreone, D.; Lacquaniti, V.; Maggi, S.; Monticone, E.; Steni, R.; Taiariol, F.. - In: APPLIED SUPERCONDUCTIVITY. - ISSN 0964-1807. - 1:7-9(1993), pp. 1333-1340. [10.1016/0964-1807(93)90440-D]

Properties of r.f. sputtered niobium thin films for metrological applications

LACQUANITI, VINCENZO;MONTICONE, EUGENIO;
1993

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