Analysis of the interfaces of stacked Josephson junctions by atomic force microscopy

Lacquaniti, V; Monticone, S. Maggi E.; Steni, R.

doi:10.1109/77.621728

CINECA IRIS Institutional Research Information System

IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.

Analysis of the interfaces of stacked Josephson junctions by atomic force microscopy / LACQUANITI V; S.MAGGI E.MONTICONE; R STENI. - In: IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY. - ISSN 1051-8223. - 7:2(1997), pp. 2419-2422.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11696/33214

Titolo:	Analysis of the interfaces of stacked Josephson junctions by atomic force microscopy
Autori:	LACQUANITI, VINCENZO
Data di pubblicazione:	1997
Rivista:	IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY
Handle:	http://hdl.handle.net/11696/33214
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

Citazioni

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.