Analysis of the interfaces of stacked Josephson junctions by atomic force microscopy

Lacquaniti, Vincenzo; Monticone, S. MAGGI E.; Steni, R.

doi:10.1109/77.621728

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Analysis of the interfaces of stacked Josephson junctions by atomic force microscopy / LACQUANITI V; S.MAGGI E.MONTICONE; R STENI. - In: IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY. - ISSN 1051-8223. - 7:2(1997), pp. 2419-2422.

Titolo:	Analysis of the interfaces of stacked Josephson junctions by atomic force microscopy
Autori:	LACQUANITI, VINCENZO S. MAGGI E. MONTICONE R. STENI mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1997
Rivista:	IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY
Handle:	http://hdl.handle.net/11696/33214
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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