Thickness dependence of electrical and structural properties of Nb Thin films / Lacquaniti, Vincenzo; S., Maggi; Monticone, Eugenio; R., Steni. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - 151:2(1995), pp. 335-344. [10.1002/pssa.2211510210]

Thickness dependence of electrical and structural properties of Nb Thin films

LACQUANITI, VINCENZO;MONTICONE, EUGENIO;
1995

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