Structural and morphological properties of evaporated SiOx films / Monticone, E., Rossi, A.M., Rajteri, M., Gonnelli, R.s., Lacquaniti, V., Amato, G.. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 80:4(2000), pp. 523-529. [10.1080/014186300255177]

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