METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Study of W centers formation in silicon upon ion implantation and rapid thermal annealing / Andrini, G.; Zanelli, G.; Tchernij, S. Ditalia; Corte, E.; Hernandez, E. Nieto; Verna, A.; Cocuzza, M.; Bernardi, E.; Virzi', S.; Traina, P.; Degiovanni, I. P.; Olivero, P.; Genovese, M.; Forneris, J.. - (2023). [10.1109/sum57928.2023.10224442] 2023 Andrini, G.Zanelli, G.Corte, E.Verna, A.Cocuzza, M.Bernardi, E.Virzi', S.Traina, P.Degiovanni, I. P.Olivero, P.Genovese, M.Forneris, J. + Study_of_W_centers_formation_in_silicon_upon_ion_implantation_and_rapid_thermal_annealing.pdf
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