METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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ANALISI DI IMPATTO DELLA REVISIONE DEL SISTEMA INTERNAZIONALE SULLA REALIZZAZIONE DELLE GRANDEZZE ELETTROMAGNETICHE IN INRIM / Agosto, A.; Basso, V.; Callegaro, L.; Capra, P. P.; Cassiago, C.; Crotti, G.; Cerri, R.; D’Elia, V.; Fissore, F.; Galliana, F.; Gasparotto, E.; Giusio, V.; Lanzillotti, M.; Rocchino, L.; Roncaglione Tet, L.; Serazio, D.; Trinchera, B.; Toso, L.; Varetto, G.; Vizio, G.. - (2019), pp. i-3. 2019 A. AgostoV. BassoL. CallegaroP. P. CapraC. CassiagoG. CrottiR. CerriF. FissoreF. GallianaE. GasparottoV. GiusioM. LanzillottiL. RocchinoL. Roncaglione TetD. SerazioB. TrincheraL. TosoG. VarettoG. Vizio + -
ANALYSIS OF A NATIONAL COMPARISON IN THE FIELD OF ELECTRICAL LOW DC RESISTANCE / Galliana, Flavio; Gasparotto, E.. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - 52:(2014), pp. 64-70. [10.1016/j.measurement.2014.03.003] 2014 GALLIANA, FLAVIOe. gasparotto -
Analysis of a national inter-laboratory comparison of high dc resistance at 10 MΩ and 1 GΩ level / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO. - In: METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS. - ISSN 2080-9050. - 16:3(2009), pp. 377-389. 2009 GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLO M&MS_2009_M-0301.pdf
Analysis of a national low dc resistance inter-laboratories comparison / Galliana, Flavio; Gasparotto, E; Capra, PIER PAOLO. - (2013). (Intervento presentato al convegno 16th INTERNATIONAL METROLOGY CONGRESS metrologie 2013 tenutosi a PARIS nel october 2013) [http://dx doi org/10 1051/metrology/201304008]. 2013 GALLIANA, FLAVIOGasparotto ECAPRA, PIER PAOLO -
Analysis of voltage coefficients of high value standard resistors / G., Boella; Galliana, Flavio. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - 41:(2008), pp. 1-9. [10.1016/j.measurement.2007.01.002] 2008 GALLIANA, FLAVIO + -
Apparato di commutazione automatico per alte resistenze / G., Boella; Galliana, Flavio; G., Rua. - (1996), pp. ?-?. (Intervento presentato al convegno XIII CONGRESSO ANNUALE DEL GRUPPO NAZIONALE DI COORDINAMENTO “MISURE ELETTRICHE ED ELETTRONICHE tenutosi a LECCE nel 26 - 28 settembre 1996). 1996 GALLIANA, FLAVIO + -
Application of Statistical Tools to Optimize a Dual Source Electrical High Dc Resistance Bridge / Mihai, I; Galliana, F. - In: MAPAN. JOURNAL OF METROLOGY SOCIETY OF INDIA. - ISSN 0970-3950. - 38:3(2023), pp. 573-581. [10.1007/s12647-023-00665-7] 2023 Mihai, IGalliana, F Mapan_HR_2023.pdf
Application of the Guide concerning the expression of uncertainty in measurement (GUM): a review and some examples of application / S., Demilio; Galliana, Flavio. - (1998), pp. 71-79. (Intervento presentato al convegno IMEKO TC 8 Workshop Evaluation and Check of Traceability: Basic Aspects and Experimental Results tenutosi a torino nel settembre 1998). 1998 GALLIANA, FLAVIO + -
Application of the GUM to measurement sitations in metrology / S., Demilio; Galliana, Flavio. - (2000), pp. 253-258. (Intervento presentato al convegno IMEKO XVI World Congress tenutosi a wien nel September 25 ÷ 28, 2000). 2000 GALLIANA, FLAVIO + -
APPLICAZIONE DELLA GUIDA ISO SULLE INCERTEZZE NELLE ATTIVITÀ DI MISURA” / S., Demilio; Galliana, Flavio. - (1999), pp. 93-94. (Intervento presentato al convegno VI Congresso Annuale del Gruppo Nazionale di Coordinamento “Misure Elettriche ed Elettroniche” GMEE tenutosi a CATANIA nel 16÷18 SETTEMBRE 1999). 1999 GALLIANA, FLAVIO + -
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Autore
  • CAPRA, PIER PAOLO 112
  • GASPAROTTO, ENRICO 42
  • SERAZIO, DANILO 24
  • LANZILLOTTI, MARCO 20
  • CERRI, ROBERTO 14
  • CALLEGARO, LUCA 11
  • ASTRUA, MILENA 9
  • ROCCATO, PAOLO EMILIO 9
  • TRINCHERA, BRUNO OTTAVIO 9
  • CULTRERA, ALESSANDRO 8
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 32
  • 2010 - 2019 69
  • 2000 - 2009 69
  • 1993 - 1999 61
Editore
  • AEI 26
  • French College of Metrology 8
  • GMEE 8
  • IMEKO 8
  • Elsevier 6
  • EDP Sciences 3
  • LES ULIS CEDEX: EDP Sciences 3
  • SIAT 3
  • Springer 3
  • 1. G. Molinar, F. Galliana, P. So... 2
Rivista
  • MEASUREMENT 14
  • TUTTO MISURE 12
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 6
  • MAPAN. JOURNAL OF METROLOGY SOCIE... 6
  • METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS 4
  • METROLOGIA 2
  • ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETT... 1
  • CAL LAB 1
  • ELECTRICAL ENGINEERING 1
  • ENERGIES 1
Keyword
  • measurement uncertainties 6
  • measurement uncertainty 6
  • Inter-laboratory comparison 4
  • calibration 3
  • measurement compatibility 3
  • Measurement uncertainty 3
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  • Hamon resistor 2
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Lingua
  • eng 116
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Accesso al fulltext
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