RicercaInizia una nuova ricerca
NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
- Nuovi campioni e sistemi di misura elettrici di alto livello per applicazioni metrologiche e per confronti di misura interlaboratorio
2016 Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Cerri, Roberto; Lanzillotti, Marco; Roncaglione, Luca
1 ohm –10 kohm high accuracy standard setup for calibration of multifunction electrical instruments
2013 Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Serazio, D; Lanzillotti, M.
1 ohm –10 kohm High Precision Resistance Setup to calibrate Multifunction Electrical instruments
2014 Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Lanzillotti, M.
1 Ω–10 kΩ high precision Resistance Setup to calibrate multifunction electrical instruments
2014 Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; M., Lanzillotti
1 AND 10 k HIGH PRECISION TRANSPORTABLE SETUP TO CALIBRATE MULTIFUNCTION ELECTRICAL INSTRUMENTS
2016 Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio
1 –10 k high accuracy standard setup for calibration of multifunction electrical instruments
2013 Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Serazio, D.; Lanzillotti, M.
10 V, 1 Ω, 10 kΩ high accuracy standard setup for calibration of multifunction electrical instruments and for inter-laboratory comparisons
2017 Capra, PIER PAOLO; Cerri, Roberto; Galliana, Flavio; Lanzillotti, Marco
10×10 GO guarded Hamon network designed for the Wheatstone bridge for high resistors calibration
2012 Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO
10×10 Gohm Guarded Hamon Network for the Modified Wheatstone Bridge for High Value Resistors Calibration
2013 Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO; Gasparotto, E.
10×10 GΩ guarded Hamon network designed for the Wheatstone bridge for high resistors calibration
2012 Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO
Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
---|---|---|---|
- Nuovi campioni e sistemi di misura elettrici di alto livello per applicazioni metrologiche e per confronti di misura interlaboratorio / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Cerri, Roberto; Lanzillotti, Marco; Roncaglione, Luca. - (2016). (Intervento presentato al convegno AFFIDABILITA' E TECNOLOGIE 2016 tenutosi a TORINO nel APRILE 2016). | 2016 | CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + | - |
1 ohm –10 kohm high accuracy standard setup for calibration of multifunction electrical instruments / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Serazio, D; Lanzillotti, M.. - (2013). [http://dx doi org/10 1051/metrology/201311006] | 2013 | CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIOSerazio d + | - |
1 ohm –10 kohm High Precision Resistance Setup to calibrate Multifunction Electrical instruments / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Lanzillotti, M.. - (2014), pp. 945-949. | 2014 | CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + | - |
1 Ω–10 kΩ high precision Resistance Setup to calibrate multifunction electrical instruments / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; M., Lanzillotti. - (2014), pp. 945-949. (Intervento presentato al convegno 20th IMEKO TC-4 International Symposium Measurement of Electrical Quantities"Research on Electrical and Electronic Measurement for the Economic Upturn" 18th TC-4 Workshop on ADC and DAC Modelling and Testing tenutosi a BENEVENTO ITALY nel September 15 - 17, 2014). | 2014 | CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + | - |
1 AND 10 k HIGH PRECISION TRANSPORTABLE SETUP TO CALIBRATE MULTIFUNCTION ELECTRICAL INSTRUMENTS / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - 82:(2016), pp. 967-974. [doi:10.1016/j.measurement.2015.11.045] | 2016 | CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO | MEAS_82.pdf; art_setup_rev_3final1 (1).pdf |
1 –10 k high accuracy standard setup for calibration of multifunction electrical instruments / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Serazio, D.; Lanzillotti, M.. - (2013). (Intervento presentato al convegno 16th INTERNATIONAL METROLOGY CONGRESS metrologie 2013 tenutosi a PARIS nel october 2013) [http://dx.doi.org/10.1051/metrology/201311006]. | 2013 | CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIOD. Serazio + | - |
10 V, 1 Ω, 10 kΩ high accuracy standard setup for calibration of multifunction electrical instruments and for inter-laboratory comparisons / Capra, PIER PAOLO; Cerri, Roberto; Galliana, Flavio; Lanzillotti, Marco. - ONLINE:SI and new electrical standards / SI et nouvelles références en électricité(2017). (Intervento presentato al convegno 18th International Congress of Metrology, 07006 (2017) tenutosi a paris nel 19/21 SETTEMBRE 2017) [10.1051/metrology/201707006]. | 2017 | CAPRA, PIER PAOLOCERRI, ROBERTOGALLIANA, FLAVIOLANZILLOTTI, MARCO | metrology_metr2017_07006.pdf |
10×10 GO guarded Hamon network designed for the Wheatstone bridge for high resistors calibration / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO. - (2012), pp. 370-371. (Intervento presentato al convegno IMEKO). | 2012 | GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLO | - |
10×10 Gohm Guarded Hamon Network for the Modified Wheatstone Bridge for High Value Resistors Calibration / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO; Gasparotto, E.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 62:6(2013), pp. 1729-1735. [http://dx.doi.org/10.1109/TIM.2013.2253971] | 2013 | GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLOGasparotto E. | - |
10×10 GΩ guarded Hamon network designed for the Wheatstone bridge for high resistors calibration / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO. - (2012), pp. 370-371. (Intervento presentato al convegno conference on precise electromangnetic measurements). | 2012 | GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLO | - |
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Opzioni
Scopri
Tipologia
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 100
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 97
- 5 Altro 73
- 5 Altro::5.12 Altro 57
- 1 Contributo su Rivista 53
- 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 53
- 5 Altro::5.14 Rapporto tecnico 9
- 5 Altro::5.07 Manufatto 6
- 2 Contributo in Volume 5
- 2 Contributo in Volume::2.1 Capit... 5
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 2
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 1
- 5 Altro::5.15 Dataset 1
Data di pubblicazione
- 2020 - 2024 32
- 2010 - 2019 69
- 2000 - 2009 69
- 1993 - 1999 61
Editore
- AEI 26
- French College of Metrology 8
- GMEE 8
- IMEKO 8
- Elsevier 6
- EDP Sciences 3
- LES ULIS CEDEX: EDP Sciences 3
- SIAT 3
- Springer 3
- 1. G. Molinar, F. Galliana, P. So... 2
Rivista
- MEASUREMENT 14
- TUTTO MISURE 12
- IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 6
- MAPAN. JOURNAL OF METROLOGY SOCIE... 6
- METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS 4
- METROLOGIA 2
- ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETT... 1
- CAL LAB 1
- ELECTRICAL ENGINEERING 1
- ENERGIES 1
Keyword
- measurement uncertainties 6
- measurement uncertainty 6
- Inter-laboratory comparison 4
- calibration 3
- measurement compatibility 3
- Measurement uncertainty 3
- normalized error 3
- Hamon resistor 2
- low frequency electrical quantities 2
- multifunction calibrator 2
Lingua
- eng 116
- ita 99
- fre 1
Accesso al fulltext
- no fulltext 176
- open 28
- partially open 12
- restricted 12
- reserved 3