METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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HUMIDITY AND MOISTURE MEASUREMENTS IN FOOD PROCESSING APPLICATIONS / Smorgon, D.; Tabandeh, S.; Cavallarin, L.; Lamberti, C.; Nebbia, S.; Giannattasio, A.; Negro, S.; Fernicola, V.. - (2019). (Intervento presentato al convegno Tempmeko 2019). 2019 D. SmorgonS. TabandehV. Fernicola + -
Improved set-up for the ytterbium optical clock at INRIM / Pizzocaro, Marco; F., Bregolin; Calonico, Davide; G. A., Costanzo; Levi, Filippo; L., Lorini. - (2013). (Intervento presentato al convegno 2013 Joint UFFC, EFTC and PFM Symposium tenutosi a Prague, CZ nel 21-25 luglio 2013). 2013 PIZZOCARO, MARCOCALONICO, DAVIDELEVI, FILIPPO + -
Indentation modulus and Young's modulus of Cu-Cr-Zr alloy at macro-scale level / Schiavi, A.; Hardy, C.; Cackett, A.; Signore, D.; Origlia, C.. - (2017). (Intervento presentato al convegno Nanomechanical Testing in Materials Research and Development VI tenutosi a Dubrovnik nel October 1-6, 2017). 2017 A. SchiaviC. Origlia + -
Influence of delay line uncertainties on THz-TDS measurements / Jahn, D.; Lippert, S.; Oberto, Luca; Bisi, Marco; Koch, M.. - (2015). (Intervento presentato al convegno THz Security workshop - Microwave and terahertz metrology for homeland security tenutosi a Davos, Switzerland nel May 28-29, 2014). 2015 OBERTO, LUCABISI, MARCO + -
Metrologia fluidodinamica: campioni primari e di seconda linea / Piccato, Aline. - (2010). 2010 PICCATO, ALINE -
Metrological characterization of a capillary type thermal mass owmeter (cttmf) for natural gas metering. XVI FLOMEKO Conference Paris, 23‐26 Septembre 2013 / Cascetta, F; Piccato, Aline; Rampazzo, F; Rotondo, G; Spazzini, PIER GIORGIO. - (2013). 2013 PICCATO, ALINESPAZZINI, PIER GIORGIO + -
METROLOGICAL CHARACTERIZATION OF A CAPILLARY TYPE THERMAL MASS FLOWMETER (CTTMF) FOR NATURAL GAS METERING / Cascetta, F; Piccato, Aline; Rampazzo, F; Rotondo, G; Spazzini, PIER GIORGIO. - (2013). (Intervento presentato al convegno FLOMEKO 2013 - International Conference on Flow Measurement tenutosi a Paris (F) nel September 24-26, 2013). 2013 PICCATO, ALINESPAZZINI, PIER GIORGIO + -
Metrology for climate observation / Merlone, A.; Coppa, G.; Lopardo, G.; Musacchio, C.; Piccato, A.; Sanna, F.; Garcia Izquierdo, C.; Kim, Y. –G.; Sparasci, F.; Thorne, P.; Zhang, J.; Strouse, G.; Van der Ham, E.; Tamba, J.; Usuda, T.; Ejigu, E.; Bell, S.; de Podesta, M.; Gardiner, T.; Monte, C.; Ebert, V.; Pavlasek, P.; Groselj, D.; Heinonen, M.; Kalemci, M.; Beges, G.; Drnovsek, J.; Hudoklin, D.; Bojkovski, J.; Castrillo, A.; Lanza, L.; Viola, A.; Vitale, V.; Emardson, R.; Feistel, R.. - (2016). (Intervento presentato al convegno GCOS science conference 2016 tenutosi a Amsterdam, Paesi Bassi nel 2-4 Marzo 2016). 2016 A. MerloneG. CoppaG. LopardoC. MusacchioA. Piccato + -
Modeling of defect effects on sensitivity of Graphene Hall devices / Simonetto, E; Manzin, Alessandra; Amato, Giampiero. - (2015). (Intervento presentato al convegno Graphene Study). 2015 MANZIN, ALESSANDRAAMATO, GIAMPIERO + -
Morphological and chemico-physical study of dye-sensitized solar cell counter electrode degradation / Castellino, Micaela; Virga, Alessandro; Sacco, Adriano; Lamberti, Andrea; Pugliese, Diego; Bianco, Stefano; Chiodoni, Angelica; Pirri, Candido. - (2013). (Intervento presentato al convegno 19th International Vacuum Congress IVC-19 tenutosi a Paris (France) nel 9-13 September 2013). 2013 PUGLIESE, DIEGOBIANCO, STEFANOPIRRI, Candido + -
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  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 56
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Autore
  • PUGLIESE, DIEGO 14
  • BIANCO, STEFANO 5
  • PICCATO, ALINE 5
  • AMATO, GIAMPIERO 4
  • OBERTO, LUCA 4
  • SCHIAVI, ALESSANDRO 4
  • BISI, MARCO 3
  • CALONICO, DAVIDE 3
  • COPPA, GRAZIANO 3
  • GERMAK, ALESSANDRO FRANCO LIDIA 3
Data di pubblicazione
  • 2019 11
  • 2018 4
  • 2017 9
  • 2016 8
  • 2015 7
  • 2013 10
  • 2012 3
  • 2011 3
  • 2010 1
Editore
  • Institute of Electrical and Elect... 3
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  • IEEE - INST ELECTRICAL ELECTRONIC... 1
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