METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Error propagation with different VNA calibration techniques at millimeter frequencies / Sellone, Marco; N., Shoaib; A., Ferrero; Oberto, Luca; Brunetti, Luciano. - (2013), pp. 24.1-24.3. (Intervento presentato al convegno 82nd ARFTG Microwave Measurement Conference tenutosi a Columbus, Ohio, USA nel 18-21/11/2013) [10.1109/ARFTG-2.2013.6737351]. 2013 SELLONE, MARCOOBERTO, LUCABRUNETTI, LUCIANO + -
Geometrical Estimator Use in Six-Port Reflectometer Study / Brunetti, Luciano. - (1990), pp. 115-115. (Intervento presentato al convegno CPEM 90 tenutosi a Ottawa (Canada) nel 11-14/06/1990). 1990 BRUNETTI, LUCIANO -
High frequency magnetoimpedance in amorphous Co71Fe4B15Si10 ferromagnetic alloy / Brunetti, Luciano; Tiberto, PAOLA MARIA; Vinai, Franco. - 235-238:(1997), pp. 789-794. 1997 BRUNETTI, LUCIANOTIBERTO, PAOLA MARIAVINAI, FRANCO -
High frequency magnetoimpedance in amorphous Co71Fe4B15Si10 ferromagnetic alloy / Brunetti, Luciano; Tiberto, PAOLA MARIA; F., Vinai. - (1996), pp. 784-788. (Intervento presentato al convegno ISMAM 96 tenutosi a Roma nel 20-24/05/1996). 1996 BRUNETTI, LUCIANOTIBERTO, PAOLA MARIA + -
High-frequency measurements of magnetic properties in amorphous materials through characteristic impedance / Brunetti, Luciano; O., Rampado; Tiberto, PAOLA MARIA; F., Vinai. - (1999), pp. 12-12. (Intervento presentato al convegno XXVI URSI General Assembly tenutosi a Toronto (Canada) nel 13-21/08/1999). 1999 BRUNETTI, LUCIANOTIBERTO, PAOLA MARIA + -
Highly sensitive heterodyne receivers for sub millimeter wave-astronomy / D., Andreone; Brunetti, Luciano; V., Laquaniti; R., Steni; J., Thorpe; E., Natale; E., Bava. - 66:(2000), pp. 113-121. (Intervento presentato al convegno Workshop Astronomy and Astrophysics at Sub Millimeter Wavelengths tenutosi a Roma nel 20/01/2000). 2000 BRUNETTI, LUCIANO + -
IEN Microwave Power Standard Realization and Dissemination / Brunetti, Luciano; M., Petrizzelli. - 1:(1994), pp. 385-389. (Intervento presentato al convegno IMEKO XIII World Congress tenutosi a Torino nel 5-9/09/1994). 1994 BRUNETTI, LUCIANO + -
Improvement of microcalorimeter measurements through data correction / Brunetti, Luciano; E., Vremera. - (2004), pp. 260-265. (Intervento presentato al convegno 13th International Symposium on Measurements for Research and Industry Applications tenutosi a Athens, Greece nel 29/09-01/10/2004). 2004 BRUNETTI, LUCIANO + -
Improvement of primary power standard through international comparison feedback / Brunetti, Luciano; Oberto, Luca; Sellone, Marco. - (2008), pp. CD-CD. (Intervento presentato al convegno Traceability to support CIPM MRA and other international arrangements tenutosi a Torino, Italy nel 06-07/11/2008). 2008 BRUNETTI, LUCIANOOBERTO, LUCASELLONE, MARCO -
Improvements on INRIM Coaxial Microcalorimeter / Brunetti, Luciano; Oberto, Luca; Sellone, Marco; N., Shoaib; E., Vremera. - (2014), pp. 750-751. (Intervento presentato al convegno 29-th CPEM tenutosi a Rio de Janeiro, Brazil nel 24-29/08/2014) [10.1109/CPEM.2014.6898603]. 2014 BRUNETTI, LUCIANOOBERTO, LUCASELLONE, MARCO + -
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 98
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Autore
  • OBERTO, LUCA 35
  • SELLONE, MARCO 25
  • TIBERTO, PAOLA MARIA 7
  • GAVIOSO, ROBERTO MARIA 4
  • MERLONE, ANDREA 4
  • DE LEO, MARIA 3
  • FRETTO, MATTEO 3
  • VINAI, FRANCO 3
  • BORSERO, MICHELE 2
  • BISI, MARCO 1
Data di pubblicazione
  • 2010 - 2016 19
  • 2000 - 2009 41
  • 1990 - 1999 34
  • 1982 - 1989 4
Editore
  • IEEE 3
  • D. Dew-Hughes, IOP Publishing Ltd 2
  • IEEE (The Institute of Electrical... 2
  • IEEE MTT-S 1
  • IMEKO 1
  • Materials Research Society 1
  • VDE Verlag 1
  • World Scientific 1
Rivista
  • MATERIALS SCIENCE FORUM 1
Keyword
  • Bilateral Comparison 2
  • Measurement Uncertainty 2
  • microwave measurements 2
  • microwave standards 2
  • Scattering Parameters 2
  • standard 2
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