La riferibilità ad alta precisione della resistenza in corrente continua (DC) nell’intervallo compreso fra 1 Ω e 10 kΩ è strettamente collegata alla realizzazione dell’effetto Hall uantistico (QHE) e all’impiego di comparatori criogenici di corrente (CCC) [1,2]. I laboratori dotati di tali sistemi operano al massimo livello di accuratezza metrologica, ma queste configurazioni, pur rappresentando lo stato dell’arte, sono complesse, costose e non sempre disponibili per il mantenimento ordinario della scala. Nei laboratori privi di accesso diretto ai sistemi QHE o CCC [3], la riferibilità viene normalmente stabilita a partire da campioni di riferimento tarati, comunemente da 100 Ω, dai quali si realizza una scala operativa mediante confronti 1:10 eseguiti con un ponte a comparatore di corrente ad alta precisione. In una catena decadica lineare, tuttavia, l’incertezza tende ad accumularsi con il numero di trasferimenti, penalizzando i valori più lontani dal punto di ingresso della riferibilità. Nel presente lavoro, due reti Hamon [4] sono integrate nella struttura a decadi, così da creare molteplici riferimenti fisici e virtuali per ciascuna decade con un totale complessivo di soli 7–8 campioni circa, contro i 10–15 richiesti dagli approcci tradizionali. Questa impostazione riduce il rischio di deriva a lungo termine e limita l’onere di manutenzione e riallineamento dei campioni. La scala di resistenza viene pertanto interpretata non più come una semplice successione di confronti lineari, ma come una rete di misura vincolata, nella quale più percorsi concorrenti contribuiscono alla stima dei valori decadici. L’obiettivo di questa memoria è quantificare, sotto ipotesi conservative, il beneficio in termini di incertezza offerto da questa architettura potenziata mediante reti Hamon e dimostrarne l’impatto sulle procedure pratiche di taratura. L’analisi teorica degli errori nelle reti di resistori serie-parallelo è stata studiata in dettaglio in [5].
Moltiplicazione virtuale dei campioni di resistenza elettrica tramite reti Hamon / Capra, P.P., Lanzillotti, M., Roncaglione Tet, L., Francone, F., Galliana, F.. - (2026), pp. 327-328. (X Forum Nazionale delle Misure REGGIO CALABRIA 7-9 Settembre 2026).
Moltiplicazione virtuale dei campioni di resistenza elettrica tramite reti Hamon
P. P. CapraWriting – Review & Editing
;M. LanzillottiMembro del Collaboration Group
;L. Roncaglione TetMembro del Collaboration Group
;F. FranconeMembro del Collaboration Group
;F. GallianaMembro del Collaboration Group
2026
Abstract
La riferibilità ad alta precisione della resistenza in corrente continua (DC) nell’intervallo compreso fra 1 Ω e 10 kΩ è strettamente collegata alla realizzazione dell’effetto Hall uantistico (QHE) e all’impiego di comparatori criogenici di corrente (CCC) [1,2]. I laboratori dotati di tali sistemi operano al massimo livello di accuratezza metrologica, ma queste configurazioni, pur rappresentando lo stato dell’arte, sono complesse, costose e non sempre disponibili per il mantenimento ordinario della scala. Nei laboratori privi di accesso diretto ai sistemi QHE o CCC [3], la riferibilità viene normalmente stabilita a partire da campioni di riferimento tarati, comunemente da 100 Ω, dai quali si realizza una scala operativa mediante confronti 1:10 eseguiti con un ponte a comparatore di corrente ad alta precisione. In una catena decadica lineare, tuttavia, l’incertezza tende ad accumularsi con il numero di trasferimenti, penalizzando i valori più lontani dal punto di ingresso della riferibilità. Nel presente lavoro, due reti Hamon [4] sono integrate nella struttura a decadi, così da creare molteplici riferimenti fisici e virtuali per ciascuna decade con un totale complessivo di soli 7–8 campioni circa, contro i 10–15 richiesti dagli approcci tradizionali. Questa impostazione riduce il rischio di deriva a lungo termine e limita l’onere di manutenzione e riallineamento dei campioni. La scala di resistenza viene pertanto interpretata non più come una semplice successione di confronti lineari, ma come una rete di misura vincolata, nella quale più percorsi concorrenti contribuiscono alla stima dei valori decadici. L’obiettivo di questa memoria è quantificare, sotto ipotesi conservative, il beneficio in termini di incertezza offerto da questa architettura potenziata mediante reti Hamon e dimostrarne l’impatto sulle procedure pratiche di taratura. L’analisi teorica degli errori nelle reti di resistori serie-parallelo è stata studiata in dettaglio in [5].I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
