Electrical resistance tomography for 2D and thin-film materials: from measurements to image reconstruction / Arduino, Alessandro; Cultrera, Alessandro. - (2025). ( IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Chemnitz, DE 19/5/2025 - 22/5/2025).

Electrical resistance tomography for 2D and thin-film materials: from measurements to image reconstruction

Alessandro Arduino;Alessandro Cultrera
2025

2025
IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference
19/5/2025 - 22/5/2025
Chemnitz, DE
none
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