Suspended DNA structural characterization by TEM diffraction / Marini, M.; Allione, M.; Lopatin, S.; Moretti, M.; Giugni, A.; Torre, B.; di Fabrizio, E.. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 187-188:(2018), pp. 39-42. [10.1016/j.mee.2017.11.020]
Suspended DNA structural characterization by TEM diffraction
Marini, M.;Torre, B.;di Fabrizio, E.
2018
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
1-s2.0-S0167931717303969-main.pdf
non disponibili
Tipologia:
final published article (publisher’s version)
Licenza:
Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione
779.22 kB
Formato
Adobe PDF
|
779.22 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.