AFM metrology of shape controlled TiO2 nanoparticles / Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi. - (2018). ((Intervento presentato al convegno NanoInnovation 2018 Conference&Exhibition.

AFM metrology of shape controlled TiO2 nanoparticles

Luigi Ribotta
2018

NanoInnovation 2018 Conference&Exhibition
none
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