Metrological characterization of MEMS accelerometers by LDV / D’Emilia, G.; Gaspari, A.; Mazzoleni, F.; Natale, E.; Prato, A.; Schiavi, A.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES. - ISSN 1742-6588. - (2020).
Titolo: | Metrological characterization of MEMS accelerometers by LDV |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2020 |
Rivista: | |
Citazione: | Metrological characterization of MEMS accelerometers by LDV / D’Emilia, G.; Gaspari, A.; Mazzoleni, F.; Natale, E.; Prato, A.; Schiavi, A.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES. - ISSN 1742-6588. - (2020). |
Handle: | http://hdl.handle.net/11696/68022 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
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D’Emilia_2020_J._Phys.__Conf._Ser._1589_012011.pdf | Versione editoriale | ![]() | Visibile a tuttiVisualizza/Apri |
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