Metrological characterization of MEMS accelerometers by LDV / D’Emilia, G.; Gaspari, A.; Mazzoleni, F.; Natale, E.; Prato, A.; Schiavi, A.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES. - ISSN 1742-6588. - (2020).

Metrological characterization of MEMS accelerometers by LDV

F. Mazzoleni;A. Prato;A. Schiavi
2020

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