METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

GRACE — Methods for the Electrical Characterization of Graphene / Cultrera, A.; Callegaro, L.; Matías, L.; Raso, F.; Huang, N. J.; Melios, C.; Hao, L.; Gallop, J.; Kazakova, O.; Arnedo, I.; Etayo, D.; Taboada, E.; Redo-Sanchez, A.; Fabricius, A.. - (2019). ((Intervento presentato al convegno Joint Workshop “GRACE at the Graphene Week 2019.

GRACE — Methods for the Electrical Characterization of Graphene

A. Cultrera;L. Callegaro;
2019
Joint Workshop “GRACE at the Graphene Week 2019
none
4.2 Abstract in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/61090
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact