GRACE: Developing Electrical Characterisation Methods for Future Graphene Electronics

Callegaro, L.; Cassiago, C.; Cultrera, A.; D'Elia, V.; Serazio, D.; Ortolano, M.; Marzano, M.; Kazakova, O.; Melios, C.; Raso, F.; Matias, L.; Zurutuza, A.; Centeno, A.; Redo-Sanchez, A.; Kretinin, A.; Sann-Ferro, K.; Fabricius, A.; Weking, G.; Bergholz, W.; Fabricius, N.

doi:10.1109/CPEM.2018.8501012

GRACE - Developing electrical characterisation methods for future graphene electronics is a 2016 Normative Joint Research Project of the European Metrology Programme for Innovation and Research. The project focuses on the measurement of the electrical properties of graphene. Its objectives are to develop validated measurement methods and protocols, including fast-throughput examples. The work is performed in collaboration with international standardisation committees, with an aim to initiate and develop dedicated documentary standards.

GRACE: Developing Electrical Characterisation Methods for Future Graphene Electronics / Callegaro, L.; Cassiago, C.; Cultrera, A.; D'Elia, V.; Serazio, D.; Ortolano, M.; Marzano, M.; Kazakova, O.; Melios, C.; Raso, F.; Matias, L.; Zurutuza, A.; Centeno, A.; Redo-Sanchez, A.; Kretinin, A.; Sann-Ferro, K.; Fabricius, A.; Weking, G.; Bergholz, W.; Fabricius, N.. - (2018). ((Intervento presentato al convegno 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Paris, France nel 8-13 July 2018.

Titolo:	GRACE: Developing Electrical Characterisation Methods for Future Graphene Electronics
Autori:	CALLEGARO, LUCA (Corresponding) CASSIAGO, CRISTINA CULTRERA, ALESSANDRO D'ELIA, VINCENZO SERAZIO, DANILO M. Ortolano M. Marzano O. Kazakova C. Melios F. Raso L. Matias A. Zurutuza A. Centeno A. Redo-Sanchez A. Kretinin K. Sann-Ferro A. Fabricius G. Weking W. Bergholz N. Fabricius mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2018
Citazione:	GRACE: Developing Electrical Characterisation Methods for Future Graphene Electronics / Callegaro, L.; Cassiago, C.; Cultrera, A.; D'Elia, V.; Serazio, D.; Ortolano, M.; Marzano, M.; Kazakova, O.; Melios, C.; Raso, F.; Matias, L.; Zurutuza, A.; Centeno, A.; Redo-Sanchez, A.; Kretinin, A.; Sann-Ferro, K.; Fabricius, A.; Weking, G.; Bergholz, W.; Fabricius, N.. - (2018). ((Intervento presentato al convegno 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Paris, France nel 8-13 July 2018.
Handle:	http://hdl.handle.net/11696/60007
ISBN:	978-1-5386-0974-3
Appare nelle tipologie:	4.1 Contributo in Atti di convegno

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ConfDig-CPEM2018_08501012.pdf		Versione editoriale	Non Pubblico - Accesso privato/ristretto	Utenti riconosciuti Richiedi una copia

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http://hdl.handle.net/11696/60007

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