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EnglishNew Approach on Quantification of Porosity of Thin Films via Electron-Excited X-ray Spectra / Ortel, Erik; Hertwig, Andreas; Berger, Dirk; Esposito, Pasquale; Rossi, Andrea M.; Kraehnert, Ralph; Hodoroaba, Vasile-Dan. - In: ANALYTICAL CHEMISTRY. - ISSN 0003-2700. - 88:14(2016), pp. 7083-7090.
| Titolo: | New Approach on Quantification of Porosity of Thin Films via Electron-Excited X-ray Spectra |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2016 |
| Rivista: | |
| Citazione: | New Approach on Quantification of Porosity of Thin Films via Electron-Excited X-ray Spectra / Ortel, Erik; Hertwig, Andreas; Berger, Dirk; Esposito, Pasquale; Rossi, Andrea M.; Kraehnert, Ralph; Hodoroaba, Vasile-Dan. - In: ANALYTICAL CHEMISTRY. - ISSN 0003-2700. - 88:14(2016), pp. 7083-7090. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11696/57322 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11696/57322
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