METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

Maskless X-Ray Writing of Electrical Devices on a Superconducting Oxide with Nanometer Resolution and Online Process Monitoring / Mino, L; Bonino, V; Agostino, A; Prestipino, C; Borfecchia, E; Lamberti, C; Operti, L; Fretto, M; De Leo, N; Truccato, M. - In: SCIENTIFIC REPORTS. - ISSN 2045-2322. - 7:9066:(2017). [10.1038/s41598-017-09443-3]

Maskless X-Ray Writing of Electrical Devices on a Superconducting Oxide with Nanometer Resolution and Online Process Monitoring

Fretto, M;De Leo, N;
2017
none
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