Effective versus standard Epstein loss figure in Fe-Si sheets / Ferrara, Enzo; Appino, Carlo; Rocchino, Luciano; Ragusa, Carlo; de la Barrière, Olivier; Fiorillo, Fausto. - In: INTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED ELECTROMAGNETICS AND MECHANICS. - ISSN 1383-5416. - 55:(2017). [10.3233/JAE-172263]
Effective versus standard Epstein loss figure in Fe-Si sheets.
Enzo Ferrara
;Carlo Appino;Luciano Rocchino;
2017
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
2017 63 FerAppRocRagBarFio IJAEM.pdf
solo utenti autorizzati
Tipologia:
final published article (publisher’s version)
Licenza:
Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione
3.08 MB
Formato
Adobe PDF
|
3.08 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Int. J. Appl. Electromagnetics Mech., 55 (2017)_postprint.pdf
accesso aperto
Tipologia:
accepted manuscript (author’s post-print)
Licenza:
Pubblico - Tutti i diritti riservati
Dimensione
450.2 kB
Formato
Adobe PDF
|
450.2 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.