Effective versus standard Epstein loss figure in Fe-Si sheets.

Ferrara, Enzo; Appino, Carlo; Rocchino, Luciano; Carlo, Ragusa; Olivier de la Barrière,; Fausto, Fiorillo

doi:10.3233/JAE-172263

CINECA IRIS Institutional Research Information System

IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.

Effective versus standard Epstein loss figure in Fe-Si sheets. / Ferrara, Enzo; Appino, Carlo; Rocchino, Luciano; Ragusa, Carlo; de la Barrière, Olivier; Fiorillo, Fausto. - In: INTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED ELECTROMAGNETICS AND MECHANICS. - ISSN 1383-5416. - 55(2017).

Titolo:	Effective versus standard Epstein loss figure in Fe-Si sheets.
Autori:	FERRARA, ENZO (Corresponding) APPINO, CARLO ROCCHINO, LUCIANO Carlo Ragusa Olivier de la Barrière Fausto Fiorillo mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2017
Rivista:	INTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED ELECTROMAGNETICS AND MECHANICS
Handle:	http://hdl.handle.net/11696/57002
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

File	Descrizione	Tipologia	Licenza
2017 63 FerAppRocRagBarFio IJAEM.pdf		Versione editoriale		Utenti riconosciuti Richiedi una copia

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11696/57002

Citazioni

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.