A capacitive displacement measurement system for scanning probe microscopy / Picotto, {. G. B. }.; Desogus, S.; Lanyi, S.; Nerino, R.; Sosso, Andrea; Monticone, Eugenio. - (1996).

A capacitive displacement measurement system for scanning probe microscopy

SOSSO, ANDREA;MONTICONE, EUGENIO
1996

1996
Sensors and Microsystems: Proc. of the I\ensuremath{^\circ} Italian Conf., Rome, 19-20 Feb, 1996, World Scientific --- ISBN: 9810228082
none
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