e nuove strutture metrologiche, di taratura e di misura / S., D'Emilio; Galliana, Flavio; A, Vol; N, ; Aprile, Giugno; P., P.. - In: ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA. - ISSN 1120-1908. - 11 n.2:(1999), pp. 57-64.

e nuove strutture metrologiche, di taratura e di misura

GALLIANA, FLAVIO;
1999

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/33463
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact