Lattice strain effects in the measurement of the Si lattice parameter by Laue-case double-crystal diffractometry / Mana, Giovanni; Palmisano, C; Zosi, G.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0021-8898. - 37:(2004), pp. 773-777.

Lattice strain effects in the measurement of the Si lattice parameter by Laue-case double-crystal diffractometry

MANA, GIOVANNI;
2004

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/33225
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 8
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 8
social impact