Lattice strain effects in the measurement of the Si lattice parameter by Laue-case double-crystal diffractometry / Mana, Giovanni; Palmisano, C; Zosi, G.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0021-8898. - 37:(2004), pp. 773-777.
Lattice strain effects in the measurement of the Si lattice parameter by Laue-case double-crystal diffractometry
MANA, GIOVANNI;
2004
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