A new line shape analysis of Raman emission in porous silicon / Brunetto, N; Amato, Giampiero. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 297:(1997), pp. 122-124.

A new line shape analysis of Raman emission in porous silicon

AMATO, GIAMPIERO;
1997

1997
none
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/31337
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 14
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 13
social impact