Depth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS)

Yang, L; Seah, Mp; Gilmore, Is; Morris, Rjh; Dowsett, Mg; Boarino, Luca; Sparnacci, K; Laus, M.

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Depth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS) / Yang L; Seah MP; Gilmore IS; Morris RJH; Dowsett MG; Boarino L; Sparnacci K; Laus M. - In: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. C. - ISSN 1932-7447. - 31(2013), pp. 16042-16052.

Titolo:	Depth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS)
Autori:	Yang L Seah MP Gilmore IS Morris RJH Dowsett MG BOARINO, LUCA Sparnacci K Laus M. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2013
Rivista:	JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. C
Handle:	http://hdl.handle.net/11696/31301
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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