Depth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS) / Yang L; Seah MP; Gilmore IS; Morris RJH; Dowsett MG; Boarino L; Sparnacci K; Laus M. - In: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. C. - ISSN 1932-7447. - 31(2013), pp. 16042-16052.

Depth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS)

BOARINO, LUCA;
2013

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