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Depth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS) / Yang, L; Seah, Mp; Gilmore, Is; Morris, Rjh; Dowsett, Mg; Boarino, Luca; Sparnacci, K; Laus, M.. - In: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. C. - ISSN 1932-7447. - 31:(2013), pp. 16042-16052.

Depth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS)

BOARINO, LUCA;
2013
2013
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