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EnglishDepth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS) / Yang L; Seah MP; Gilmore IS; Morris RJH; Dowsett MG; Boarino L; Sparnacci K; Laus M. - In: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. C. - ISSN 1932-7447. - 31(2013), pp. 16042-16052.
| Titolo: | Depth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS) |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2013 |
| Rivista: | |
| Citazione: | Depth profiling and melting of nanoparticles in secondary ion mass spectrometry (SIMS) / Yang L; Seah MP; Gilmore IS; Morris RJH; Dowsett MG; Boarino L; Sparnacci K; Laus M. - In: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. C. - ISSN 1932-7447. - 31(2013), pp. 16042-16052. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11696/31301 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11696/31301
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