Nanoscale metrology / Picotto, Gianbartolo; Koenders, L.; Wilkening, G.. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 20:8(2009), pp. 080101-080102. [10.1088/0957-0233/20/8/080101]

Nanoscale metrology

PICOTTO, GIANBARTOLO;
2009

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/30560
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