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EnglishNanoscale metrology / Picotto, G.; Koenders, L.; Wilkening, G.. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 20:8(2009), pp. 080101-080102.
| Titolo: | Nanoscale metrology |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2009 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11696/30560 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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