Silicon lattice-parameter measurements with centimeter x-ray interferometry / L., Ferroglio; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - (2008), pp. 410-411. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a Broomfield (USA) nel 8-13 June 2008).

Silicon lattice-parameter measurements with centimeter x-ray interferometry

MANA, GIOVANNI;MASSA, ENRICO
2008

2008
CPEM
8-13 June 2008
Broomfield (USA)
none
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