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Microstructure analysis on polycrystalline 3C–SiC thin films / Ricciardi, C., F., G., G., F., S., M., V., B., E., B., G., B., Rossi, A.M.. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 14:(2005), pp. 1134-1137. [10.1016/j.diamond.2005.01.029]

Microstructure analysis on polycrystalline 3C–SiC thin films

ROSSI, ANDREA MARIO
2005
2005
none
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