ALOCCO, ALESSANDRO

ALOCCO, ALESSANDRO  

QN Metrologia quantistica e nanotecnologie  

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Measurement and Calibration Approaches for Two-Port Scattering Parameters at mK Temperatures / Oberto, L., Shokrolahzade, E., Enrico, E., Fasolo, L., Celotto, A., Galvano, B., Alocco, A., Mubarak, F.A., Spirito, M.. - (2024), pp. 1-2. (Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) Denver (CO), USA 8-12 Luglio 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646000]. 2024 Oberto, L.Enrico, E.Fasolo, L.Celotto, A.Alocco, A. + Measurement_and_Calibration_Approaches_for_Two-Port_Scattering_Parameters_at_mK_Temperatures.pdf
Towards Quantifying Two-Mode Correlation Linewidths in Quantum Circuits / Alocco, A., Celotto, A., Fasolo, L., Galvano, B., Palumbo, E., Oberto, L., Callegaro, L., Tafuri, F.F., Livreri, P., Enrico, E.. - (2025), pp. 1-4. (2025 International Workshop on Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-Wave Circuits, INMMiC 2025 ita 2025) [10.1109/inmmic64198.2025.10975393]. 2025 Alocco, AlessandroCelotto, AndreaFasolo, LucaGalvano, BernardoPalumbo, EmanueleOberto, LucaCallegaro, LucaEnrico, Emanuele + Towards_Quantifying_Two-Mode_Correlation_Linewidths_in_Quantum_Circuits.pdf