ALOCCO, ALESSANDRO
ALOCCO, ALESSANDRO
QN Metrologia quantistica e nanotecnologie
Mostra
records
Risultati 1 - 2 di 2 (tempo di esecuzione: 0.003 secondi).
Measurement and Calibration Approaches for Two-Port Scattering Parameters at mK Temperatures
2024 Oberto, L.; Shokrolahzade, E.; Enrico, E.; Fasolo, L.; Celotto, A.; Galvano, B.; Alocco, A.; Mubarak, F. A.; Spirito, M.
Towards Quantifying Two-Mode Correlation Linewidths in Quantum Circuits
2025 Alocco, Alessandro; Celotto, Andrea; Fasolo, Luca; Galvano, Bernardo; Palumbo, Emanuele; Oberto, Luca; Callegaro, Luca; Tafuri, Felice Francesco; Livreri, Patrizia; Enrico, Emanuele
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Measurement and Calibration Approaches for Two-Port Scattering Parameters at mK Temperatures / Oberto, L.; Shokrolahzade, E.; Enrico, E.; Fasolo, L.; Celotto, A.; Galvano, B.; Alocco, A.; Mubarak, F. A.; Spirito, M.. - (2024), pp. 1-2. ( Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) Denver (CO), USA 8-12 Luglio 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646000]. | 2024 | Oberto, L.Enrico, E.Fasolo, L.Celotto, A.Alocco, A. + | Measurement_and_Calibration_Approaches_for_Two-Port_Scattering_Parameters_at_mK_Temperatures.pdf |
| Towards Quantifying Two-Mode Correlation Linewidths in Quantum Circuits / Alocco, Alessandro; Celotto, Andrea; Fasolo, Luca; Galvano, Bernardo; Palumbo, Emanuele; Oberto, Luca; Callegaro, Luca; Tafuri, Felice Francesco; Livreri, Patrizia; Enrico, Emanuele. - (2025), pp. 1-4. ( 2025 International Workshop on Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-Wave Circuits, INMMiC 2025 ita 2025) [10.1109/inmmic64198.2025.10975393]. | 2025 | Alocco, AlessandroCelotto, AndreaFasolo, LucaGalvano, BernardoPalumbo, EmanueleOberto, LucaCallegaro, LucaEnrico, Emanuele + | Towards_Quantifying_Two-Mode_Correlation_Linewidths_in_Quantum_Circuits.pdf |