METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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High spectral purity CO2 laser stabilized using a molecular frequency reference / Pisani, M., Sassi, M.P., Zucco, M.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 44:2(1995), pp. 159-161. [10.1109/19.377798] 1995 PISANI, MARCOSASSI, MARIA PAOLAZUCCO, MASSIMO -
A scanning tunnelling microscope device having interferometric and/or capacitance-based control of displacements / Desogus, S., Lanyi, S., Nerino, R., Picotto, {.G.B.}., Pisani, M., Sosso, A.. - (1997). 1997 PISANI, MARCOSOSSO, ANDREA + -
Pointing device for a computer / Pisani, M., Zangirolami, M., Mongarli, A.. - (1997). 1997 PISANI, MARCO + -
Enciclopedia UTET NOVA / Pisani, M.. - (1998). 1998 PISANI, MARCO -
Ruolo delle grandezze elettriche nella metrologia meccanica e termica / Bertinetto, F., Marcarino, P., Pisani, M., Rebaglia, B.. - In: ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA. - ISSN 1120-1908. - (1999). 1999 PISANI, MARCO + -
A precision Z-stage for Scanning Probe Microscopy / Picotto, G., Pisani, M.. - PTB-Bericht F-39:(2000), pp. 164-168. 2000 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
Displacement measurements of piezoelectric actuators in the nanosize-range / Fabbri, G., Galassi, C., Picotto, G., Pisani, M.. - PTB-Bericht F-44:(2001), pp. 118-124. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
Topography reconstruction by means of optical scatterometry / Pisani, M., Zucco, M., Picotto, G.. - PTB-Bericht F-44:(2001), pp. 118-124. 2001 PISANI, MARCOZUCCO, MASSIMOPICOTTO, GIANBARTOLO -
A metrological SPM for dimensional surface measurements / Picotto, G., Pisani, M.. - Vol. 1:(2001), pp. 402-405. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
Circuit yields accurate absolute values / Pisani, M.. - In: EDN. - ISSN 0012-7515. - July 2001:(2001), pp. 125-125. 2001 PISANI, MARCO -
A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements / Picotto, G., Pisani, M.. - In: ULTRAMICROSCOPY. - ISSN 0304-3991. - 1:(2001), pp. 1-12. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
1-kV Piezo Amplifier Keeps Cost, Noise Low / Pisani, M.. - In: ELECTRONIC DESIGN. - ISSN 0013-4872. - Aug 2001:(2001), pp. 88-90. 2001 PISANI, MARCO -
Large-area 3D surface standards with polyimide for calibration of stylus and optical profilometers / Matay, L., Andok, R., Kostic, I., Picotto, G.B., Pisani, M.. - In: JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING. - ISSN 1335-3632. - 53:(2002), pp. 214-218. 2002 PISANI, MARCO + -
Titolo: Dispositivo dotato di sensore capacitivo per il controllo di posizione e/o spostamento per altoparlanti / Pisani, M.. - (2002). 2002 PISANI, MARCO -
Gli istituti metrologici primari italiani / Basso, V., Callegaro, L., Pimpinella, M., Pisani, M.. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-02:(2003), pp. 103-105. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Capacità di misura e taratura (CMC) in radiometria, fotometria e colorimetria / Basso, V., Callegaro, L., Pimpinella, M., Pisani, M.. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-03:(2003), pp. 268-269. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Correlation between Photoactivity and STM Topographic Parameters of TiO2 Polycrystalline Film / Apasquini, A.P., Picotto, G., Pisani, M., Maurino, V., Minero, C.. - 696:(2003), pp. 802-809. (SCANNING TUNNELING MICROSCOPY/SPECTROSCOPY AND RELATED TECHNIQUES: 12th International Conference STM'03 Eindhoven (NETHERLANDS) 21-25 July 2003) [http://dx.doi.org/10.1063/1.1639786]. 2003 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
L'impegno degli IMP nelle misure per la sicurezza e il comfort / Basso, V., Callegaro, L., Pimpinella, M., Pisani, M.. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-04:(2003), pp. 359-360. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Le pagine degli Istituti Metrologici Primari / Basso, V., Callegaro, L., Pimpinella, M., Pisani, M.. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-01:(2003), pp. 68-71. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Nanometrologia all'IMGC/CNR / Bisi, M., Germak, A.F.L., Massa, E., G. B., P., Pisani, M.. - In: NANOTEC IT NEWSLETTER. - 1:(2004), pp. 7-10. 2004 BISI, MARCOGERMAK, ALESSANDRO FRANCO LIDIAMASSA, ENRICOPISANI, MARCO + -
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